[实用新型]电阻测试仪无效
申请号: | 200820221103.0 | 申请日: | 2008-11-19 |
公开(公告)号: | CN201311454Y | 公开(公告)日: | 2009-09-16 |
发明(设计)人: | 张根清;宋暖;欧阳进民 | 申请(专利权)人: | 河南久大电子电器有限公司 |
主分类号: | G01R27/02 | 分类号: | G01R27/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 461500河南省长*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电阻 测试仪 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种仪器,具体地说是涉及一种半导体器件电阻测试仪。
背景技术
在半导体生产过程中,需要对生产的半导体器件的性能进行检验,测量其电阻是一项主要的指标,在现有的检验中所使用的是万用表,操作工人需要双手拿表笔进行测量,由于半导体器件比较薄小,双手拿住表笔又要测量很不方便,也容易产生误差电阻测试仪。
发明内容
本实用新型的目的就是针对上述存在的问题,提供一种操作方便、测量准确、不易产生误差的。
本实用新型的是这样实现的:电阻测试仪,包括测试板、电阻表、测试触头和导线,其特征在于:测试触头一端固定于测试板上,另一端翘起,测试触头导线点连接电阻表;测试板上还具有固定半导体器件的滑道。
本实用新型的有益效果是:由于采取了以上结构,使得用这样的电阻测试仪具有操作方便、劳动强度低、减少误差的优点。
附图说明
图1是本实用新型电阻测试仪的结构示意图
其中;1、测试板 2、电阻表 3、测试触头 4、导线5、滑道
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型作进一步的描述。
如图1所示:电阻测试仪,包括测试板1、电阻表2、测试触头3和导线4,其特征在于:测试触头3一端固定于测试板1上,另一端翘起,测试触头3导线4连接电阻表2;测试板1上还具有固定半导体器件的滑道5。
测量时,测试触头的翘起端接触半导体器件的要接触部位,半导体器件可以在测试板上滑动。
为了大批测试,可以设置滑道5,使半导体器件位置固定,更准确、方便、快捷。
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