[实用新型]铜带厚度测量仪

说明书

技术领域：

本实用新型涉及一种利用光学测量铜带厚度的装置，确切地说是一种用于铜带压轧生产线上的铜带厚度测量仪。

背景技术：

铜带生产过程中，对于厚度的要求特别高，必须严格控制铜带的厚度，规模小的企业都是用卡尺人工测量，铜带在压轧生产线上是在不停地运行，手工测量就很困难，误差也大，质量无法保证，只能生产要求较低的产品；规模较大的企业广泛采用接触式测厚仪进行测量，接触式的测量会对铜带表面造成伤害，具有一定的破坏性。

实用新型内容：

本实用新型的目的在于提供一种测量方便、精确度高的非接触式铜带厚度测量仪。

为实现上述目的，本实用新型采取如下技术方案：一种铜带厚度测量仪，包括低相干度光源、二个干涉仪、三组传光光纤、光电接收器和信号处理器，所述的二个干涉仪对称设置于被测铜带的两侧，铜带的两个对应表面分别作为两个干涉仪的反射面，所述的低相干度光源经第一组传光光纤射至第一干涉仪，第一干涉光经第二组传光光纤至第二干涉仪，第二干涉光经第三组传光光纤、光电接收器至信号处理器。

本实用新型进一步的技术方案是，所述的低相干度光源为宽带光源，干涉仪为迈克尔逊干涉仪。

通过上述技术方案可以看出，将被测铜带位于两个干涉仪之间，铜带的两个对应表面分别作为两个干涉仪的反射面，一个低相干度光源经第一组传光光纤射至第一个干涉仪，第一个干涉仪输出的干涉光经第二组传光光纤作为光源照射至第二干涉仪，第二个干涉仪输出的干涉光经第三组传光光纤被光电接收器接收，经信号处理器处理得出被测铜带的厚度。

本实用新型与现有技术相比，具有的有益效果是，测量精度高、测量速度快，由于是非接触式测量，对铜带表面没有任何损伤，特别适合不透明且两面都有较强反射度的带材的厚度测量。

附图说明：

附图为本实用新型实施例的结构框图。

具体实施方式：

本实用新型由低相干度光源、二个迈克尔逊干涉仪、三组传光光纤、光电接收器和信号处理器组成，如附图所示，二个迈克尔逊干涉仪3、5对称设置于被测铜带的两侧，低相干度光源采用宽带光源，铜带9的两个对应表面分别作为两个迈克尔逊干涉仪的反射面，一个低相干度光源1通过透镜经第一组传光光纤2射至第一迈克尔逊干涉仪3中的光纤耦合器31上，第一迈克尔逊干涉仪3还包括测量反射镜32和参考反射镜33，测量反射镜32就是铜带9的一个表面，第一迈克尔逊干涉仪3输出的干涉光经第二组传光光纤4作为光源照射至第二迈克尔逊干涉仪5中的光纤耦合器51上，第二迈克尔逊干涉仪5还包括测量反射镜52和参考反射镜53，测量反射镜52是铜带9的另一个表面，第二迈克尔逊干涉仪5输出的干涉光经第三组传光光纤6被光电接收器7接收，经信号处理器8处理得出被测铜带的厚度。