[实用新型]集成电路组件层叠结构有效
申请号: | 200820301077.2 | 申请日: | 2008-06-10 |
公开(公告)号: | CN201243016Y | 公开(公告)日: | 2009-05-20 |
发明(设计)人: | 马嵩荃;梁裕民 | 申请(专利权)人: | 讯忆科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L25/00 | 分类号: | H01L25/00;H01L25/065;H01L25/18;H01L23/48 |
代理公司: | 长沙正奇专利事务所有限责任公司 | 代理人: | 何 为 |
地址: | 中国台湾桃园县*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 集成电路 组件 层叠 结构 | ||
技术领域:
本实用新型涉及一种集成电路组件层叠结构,尤指一种可将所需的系统整合于第一及第二晶粒上,而除可增加集成电路组件布局时的灵活性外,亦可同时达到易于制作以及特性稳定的功效。
背景技术:
一般现有的在结合二集成电路组件时,如图7所示,通常是将二晶粒4、5层叠之后,再以导线6跨设于二晶粒4、5的边缘,使各导线6连接该二晶粒4、5表面上的各接点41、51,藉以结合二晶粒4、5作为集成电路组件布局设计的使用。
虽然,上述方式可将二晶粒4、5藉由导线6进行沟通,但是由于该些导线6进行连接时,必须跨设于二晶粒4、5的边缘,因此,仅能提供相同尺寸的晶粒做层叠,而较无使用上的灵活性,造成晶粒所运用的系统设计受限,而不易进行整合,除此之外,由于其制作手续复杂,因此,导致制作时的良率较低。
实用新型内容:
本实用新型所要解决的技术问题是:针对上述现有技术的不足,提供一种集成电路组件层叠结构,可利用第一晶粒与第二晶粒的层叠配合,而将所需的系统整合于第一及第二晶粒上,除可增加集成电路组件布局的灵活性外,亦可达到易于制作以及特性稳定的功效。
为解决上述技术问题,本实用新型所采用的技术方案是:一种集成电路组件层叠结构,其包括第一晶粒和第二晶粒,该第二晶粒层叠于第一晶粒的一面上,其特点是:所述第一晶粒周缘设有多数第一缺口,且该第一晶粒上设有第一传导区、及连接各第一缺口与第一传导区的第一布线区;该第二晶粒的周缘设有与该第一传导区对应的第二缺口,该第一传导区与第二缺口间设有导通介质,并于该第二晶粒上设有第二传导区、及连接各第二缺口与第二传导区的第二布线区。
如此,可利用第一晶粒与第二晶粒的层叠配合,而将所需的系统整合于第一及第二晶粒上,除可增加集成电路组件布局的灵活性外,亦可达到易于制作以及特性稳定的功效。
附图说明:
图1是本实用新型一实施例的立体外观示意图。
图2是图1的的立体分解示意图。
图3是图1的剖面状态示意图。
图4是本实用新型另一实施例的立体分解示意图。
图5是图4的剖面状态示意图。
图6是本实用新型又一实施例的立体分解示意图。
图7是现有的集成电路组件层叠的立体示意图。
标号说明:
第一晶粒1 基板101、201
第一线路层102、202 绝缘层103、203
第二线路层104、204 第一缺口11
第一传导区12 接点121
第一布线区13 导线131
第二晶粒2 第二缺口21
导通介质22 第二传导区23
第二布线区24 接点231
第二布线区2 导线241
第三晶粒3 第三缺口31
导通介质32 第三传导区33
第三布线区34 晶粒4、5
接点41、51 导线6
具体实施方式:
请参阅图1-图3所示,分别为本实用新型第一实施例的立体外观示意图、立体分解示意图及剖面状态示意图。如图所示:本实用新型为一种集成电路组件层叠结构,其至少由一第一晶粒1以及第二晶粒2所构成;可利用第一晶粒1与第二晶粒2的层叠配合,而将所需的系统整合于第一及第二晶粒1、2上,除可增加集成电路组件布局的灵活性外,亦可达到易于制作以及特性稳定的功效。
上述所提的第一晶粒1至少由一基板101、一层叠于基板101上的第一线路层102、一层叠于第一线路层102上的绝缘层103、及一层叠于绝缘层103上的第二线路层104所构成,且该第一晶粒1其周缘设有多数第一缺口11,并于该第一晶粒1上设有第一传导区12、及连接各第一缺口11与第一传导区12的第一布线区13,其中该第一传导区12具有多数接点121,而该第一布线区13具有多数导线131,且各导线131除连接各第一缺口11与第一传导区12之外,亦可延伸至第一晶粒1的另一面上。
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