[发明专利]触摸面和检测触摸输入的系统和方法

权利要求书

1.一种触摸面，包括：

一个平面；

第一发射传感器设备，其位于靠近平面的第一位置上，其中第一发射传感器设备包括第一光束发射器，其被设置以发出第一光束，还包括第一活动表面，用来反射第一光束而穿过该平面，以及包括第一光传感器，其被设置以检测第一光束的反射；

第二发射传感器设备，其位于靠近平面的第二位置上，其中第二发射传感器设备包括第二光束发射器，其被设置以发出第二光束，还包括第二活动表面，用来反射第二光束而穿过该平面，以及包括第二光传感器，其被设置以检测第二光束的反射；

一个处理单元，其与第一发射传感器设备和第二发射传感器设备联合运行，其中处理单元被设置以基于第一光束的反射时间和第二光束的反射时间来计算该平面上的触摸位置。

2.根据权利要求1所述的触摸面，其中第一光束发射器和第二光束反射器中的每个光束反射器是一个激光二极管。

3.根据权利要求1所述的触摸面，其中第一光束发射器和第二光束反射器中的每个光束反射器是一个发光二极管。

4.根据权利要求1所述的触摸面，其中第一光束是具有第一预设波长/频率的第一激光，而第二光束是具有第二预设波长/频率和第二光信号的第二激光。

5.根据权利要求1所述的触摸面，其中活动表面是一个通过MEMS制作的扫描微振镜。

6.根据权利要求1所述的触摸面，其中第一光束是在对应多个预设时间的多个预设角度上被反射，而第二光束是在对应多个预设时间的多个预设角度上被反射；计算平面上的触摸位置包括确定对应反射时间的第一角度和确定对应反射时间的第二角度，其中第一角度是第一光束在该反射时间上的一个角度，而第二角度是第二光束在该反射时间上的一个角度，使用第一角度和第二角度来计算x和y位置坐标。

7.根据权利要求1所述的触摸面，其中该平面有预定尺寸，其中处理单元被设置以计算该平面的尺寸。

8.根据权利要求1所述的触摸面，其中触摸面有一个定义触摸面区域的周界，其中周界并不十分反射第一和第二光束而被第一光传感器和第二光传感器记录到。

9.根据权利要求1所述的触摸面，其中处理单元被设置以同步且同时地从第一光束发射器发出第一光束和从第二光束发射器发出第二光束。

10.根据权利要求9所述的触摸面，其中处理单元还被设置以迅速反射来自第一光束发射器的光束而穿过触摸面，并迅速反射来自第二光束发射器的光束而穿过触摸面。

11.根据权利要求1所述的触摸面，其中平面是一个虚拟表面。

12.根据权利要求1所述的触摸面，其中第一发射传感器设备位于该平面的第一角上，而第二发射传感器位于该平面的第二角上，第二角与第一角对角交叉。

13.一种用来检测一个平面上的位置的触摸检测方法，本方法包括：

提供一个平面；

从该平面上的第一位置发出第一光束；

反射第一光束而穿过该平面，并平行与该平面，其中第一光束是在多个预设角度上被反射，每个角度对应多个预设时间；

从该平面上的第二位置发出第二光束；

反射第二光束而穿过该平面，并平行与该平面，其中第二光束是在多个预设角度上被反射，每个角度对应多个预设时间；

检测在时间t1时第一光束和第二光束中的至少一个光束的反射；

确定在时间t1时第一光束的第一反射角度；

确定在时间t1时第二光束的第二反射角度；和

基于第一角度和第二角度计算触摸位置。

14.根据权利要求13所述的方法，还包括：

检测在时间t2时第一光束和第二光束中的至少一个光束的反射；

确定在时间t2时第一光束的第一反射角度；

确定在时间t2时第二光束的第二反射角度；和

基于第一角度和第二角度计算触摸位置。

15.根据权利要求13所述的方法，还包括动态地计算该平面的尺寸。

16.根据权利要求13所述的方法，其中第一光束是具有第一预设波长/频率的第一激光，而第二光束是具有第二预设波长/频率和第二光信号的第二激光。