[发明专利]记录装置、记录和再现方法以及再现方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种用于对在其上数据被记录为参照光和信号光的 干涉条纹的全息记录介质执行记录的记录装置，以及在全息记录介质 上执行记录并从其执行再现的记录和再现方法。本发明还涉及一种从 全息记录介质执行再现的再现方法，在该全息记录介质上基于通过根 据PSK方法或QAM方法的调制处理获得的I数据和Q数据的组合 的光强度和相位的信息被记录为参照光和信号光的干涉条纹。

背景技术

在全息记录和再现方法中，尤其是在光学存储系统领域中的全息 记录和再现方法中，例如透射型液晶面板或DMD(数字微镜器件) 的SLM(空间光调制器)被用于光强度调制，获得位为1(例如，光 强度＝高)和位为0(例如，光强度＝低)的模式(pattern)阵列的这 种强度调制被应用于信号光。

这时，在SLM中，例如按照图2中示出的方式，响应于记录数 据在SLM的中心部分应用光强度调制以产生信号光，同时光在信号 光的周围以环状透射以产生参照光。然后，响应于记录数据而调制的 信号光与参照光一起照射到全息记录介质上，于是信号光和参照光的 干涉条纹被作为数据而记录在全息记录介质上。

另一方面，当再现数据时，只有上述的参照光通过SLM被产生 并被照射到全息记录介质上，以获得对应于干涉条纹的衍射光。基于 衍射光的图像形成在例如CCD(电荷耦合器件)传感器或CMOS(互 补氧化物半导体)传感器的图像传感器上以获得记录位的值，从而执 行数据再现。

信号光和参照光以这种方式照射在同一光学轴上的全息记录和 再现方法作为同轴方法而被公知。

要指出的是，作为相关的现有技术，可以列举出2005年1月17 日的Nikkei Electronics，第106-114页。

这里，期望上面描述的全息记录和再现技术作为用以代替在目前 情况下投入实际使用的各种光盘介质、HDD(硬盘驱动器)等的下一 代大容量数据存储技术。为此，作为全息记录和再现技术，期望能够 进一步提高数据记录容量。

发明内容

考虑如上所述的主题，根据本发明，按照下面的方式来构造一种 记录装置。

具体地讲，本发明的记录装置是一种在全息记录介质上执行记录 的记录装置，在所述全息记录介质上数据被记录为参照光和信号光的 干涉条纹，所述记录装置包括：空间光强度调制装置，用于以像素为 单位执行空间光强度调制；和空间光相位调制装置，用于以像素为单 位执行空间光相位调制。

所述记录装置还包括光学系统，用于将从光源发射的光通过空间 光强度调制装置和空间光相位调制装置引导到全息记录介质。所述记 录装置还包括转换装置，用于将由两种不同值的组合形成的输入数据 列转换成由三种或更多种不同值的组合形成的另一数据列。

另外，所述记录装置还包括振幅和相位控制装置，用于响应于从 所述转换装置获得的数据列的每个值，控制空间光强度调制装置和空 间光相位调制装置的每个像素的光强度和相位。

这里，在全息记录介质上，相位的信息可与光强度的信息(振幅 的信息)一起记录。

在如上所述的本发明中，在由两种不同值的组合形成的数据列被 转换成由三种或更多种值的组合形成的另一数据列并且响应于由这 三种或更多种不同值形成的数据列的每个值控制每个像素的振幅和 相位的情况下，与当如在现有技术中仅控制振幅的开/关时记录由两个 不同值的组合形成的数据列的情况相比，可以以较少的位数记录信 息。换言之，在像素数量有限的情况下，可记录更大数量的信息。

按照这种方式，根据本发明，通过利用相位与振幅组合在一起的 记录调制编码，相同的信息可用比现有技术少的位数来表示。结果， 可以实现数据记录容量的增加。

附图说明

图1是示出了采用了同轴方法的全息记录和再现装置的内部构 造的图，作为示出了全息记录和再现的基本操作的图。

图2是示出了全息记录介质的记录技术的图。

图3是示出了全息记录介质的再现技术的图。

图4是示出了包括通过空间光调制部限定的参照光区域、信号光 区域和间隙区域的各个区域的图。

图5是示出了设置了相位掩模的情况下记录和再现装置的构造 的示例的图。

图6是示出了相位掩模和空间光调制器一体地形成的情况下的 构造的图。

图7是示出了通过相位掩模的相位调制来实现对DC分量的抑制 的图。