[发明专利]数据存储介质用基板玻璃及玻璃基板无效
申请号: | 200880001560.1 | 申请日: | 2008-03-21 |
公开(公告)号: | CN101578242A | 公开(公告)日: | 2009-11-11 |
发明(设计)人: | 永井研辅;中岛哲也;前田敬;长嵨达雄 | 申请(专利权)人: | 旭硝子株式会社 |
主分类号: | C03C3/087 | 分类号: | C03C3/087;C03C3/085;G11B5/73;G11B7/253 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 刘多益;胡 烨 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 数据 存储 介质 用基板 玻璃 | ||
1.一种数据存储介质用基板玻璃,其特征在于,以质量%表示含有47~60%的SiO2、8~20%的Al2O3、0~8%的MgO、0~6%的CaO、1~18%的SrO、0~13%的BaO、1~6%的TiO2、1~5%的ZrO2、2~8%的Na2O、1~15%的K2O,玻璃化温度在680℃以上。
2.如权利要求1所述的数据存储介质用基板玻璃,其特征在于,K2O的以质量%表示的含量与Na2O的以质量%表示的含量的比值K2O/Na2O为1.5以上。
3.如权利要求2所述的数据存储介质用基板玻璃,其特征在于,所述K2O/Na2O为10以下。
4.如权利要求1~3中任一项所述的数据存储介质用基板玻璃,其特征在于,Na2O的含量和K2O的含量之和Na2O+K2O为16质量%以下。
5.如权利要求1~3中任一项所述的数据存储介质用基板玻璃,其特征在于,Na2O+K2O为13质量%以下。
6.如权利要求1~5中任一项所述的数据存储介质用基板玻璃,其特征在于,SiO2的以质量%表示的含量与TiO2和ZrO2的以质量%表示的含量之和的比值SiO2/(TiO2+ZrO2)为5.0~10.0。
7.如权利要求1~6中任一项所述的数据存储介质用基板玻璃,其特征在于,含有11质量%以上的Al2O3。
8.如权利要求1~7中任一项所述的数据存储介质用基板玻璃,其特征在于,TiO2和ZrO2的含量之和为11质量%以下。
9.如权利要求1~8中任一项所述的数据存储介质用基板玻璃,其特征在于,SiO2的含量为59摩尔%以上。
10.如权利要求1~9中任一项所述的数据存储介质用基板玻璃,其特征在于,BaO和ZrO2的含量之和为6.5摩尔%以下。
11.如权利要求1~10中任一项所述的数据存储介质基板用玻璃,其特征在于,密度为2.8g/cm3以下。
12.如权利要求1~11中任一项所述的数据存储介质用基板玻璃,其特征在于,将液相温度记为TL(单位:℃)、将粘度达到104dPa·s时的温度记为T4(单位:℃)时,TL-T4≤50℃。
13.如权利要求1~12中任一项所述的数据存储介质用基板玻璃,其特征在于,将玻璃在90℃的0.1mol/l的HCl水溶液中浸渍20小时后的重量减少量为5mg/cm2以下。
14.如权利要求1~13中任一项所述的数据存储介质用基板玻璃,其特征在于,在50~350℃下的平均线膨胀系数为75×10-7/℃以上。
15.一种玻璃基板,其特征在于,由权利要求1~14中任一项所述的数据存储介质用基板玻璃形成。
16.一种玻璃基板,由权利要求1~14中任一项所述的数据存储介质用基板玻璃形成,其特征在于,在120℃和2个大气压的水蒸气气氛中放置20小时后,该玻璃基板的表面上所存在的大小在10μm以上的附着物的数量为1个/cm2以下,大小在1μm以上但小于10μm的附着物的数量为107个/cm2以下。
17.一种玻璃基板,由权利要求1~14中任一项所述的数据存储介质用基板玻璃形成,其特征在于,杨氏模量为75GPa以上。
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