[发明专利]测距仪无效

专利信息
申请号: 200880003556.9 申请日: 2008-01-24
公开(公告)号: CN101600971A 公开(公告)日: 2009-12-09
发明(设计)人: P·沃尔夫;U·斯库尔特蒂-贝茨;J·斯蒂尔;B·哈斯;K·伦茨 申请(专利权)人: 罗伯特·博世有限公司
主分类号: G01S7/481 分类号: G01S7/481;G01S17/08;G01C15/00;G01C3/08
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 李永波;曹 若
地址: 德国斯*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 测距仪
【说明书】:

现有技术

发明涉及一种用于无接触的距离测量的测距仪,尤其是一种用于 无接触的距离测量的手持仪。

这种类型的测距仪通常用于测量从一个参照点到一个要被测量的 目标之间的距离,其中测距仪通过相应的测量止挡支承在该参照点上。 这种测距仪例如可以设计成激光测量仪,超声波测量仪或也可以设计成 高频测量仪或雷达测量仪。在所有情况下通过直接或间接测量从测量仪 发出的调制的信号的渡越时间来确定该距离,其中所述信号被要测量的 目标反射和接着又被测量仪接收。

由DE4316348A1公开了一种测距仪它可以用于不同的测量任务。 例如对于经常出现的测量应用情况该测量仪可以从一个内表面如例如 内壁、底板或盖板出发在后侧,即通过与目标相背离的止挡面顶靠到参 照面上。对于要从一个外棱边出发进行测量的情况,已知的测距仪可以 在一测量的目标的方向上通过它的前侧,即通过与目标面对的止挡面顶 靠到参照面上。在DE4316348A1的装置中仪器的前侧和后侧是相互平 行地构造的。依据应用情况的不同,或者测距仪的前侧或者测距仪的后 侧被限定为距离测量在仪器侧的基准点或零点。

由DE29615514U1公开一种电子式测距仪,它具有用于测量射线的 发射器和用于返回的、被反射的射线的接收器以及用于求出测量仪至反 射点之间的距离的处理单元,该测量仪在它的基本上为长方六面体形的 外壳的两个平行相对的表面上各具有测量刮板,它可以向前和向后移动 地固定在外壳上。测量刮板固定在仪器外壳两侧上的导向机构中,它们 一方面可以一直拉回到仪器的前侧面或在一个另外的稳定的末端位置 上可以拉出到一个精确地预先给定的长度。测量刮板被拉出的位置自动 地通过在刮板的导向机构中或在测量仪的外壳壁中设置的按键开关1确 定和传递给电子式测距仪的处理单元。

DE10055510A1公开了一直光电子激光测距仪,它在它的与测量方 向背离的外壳后侧上具有具有一个扁平的测量止挡,后者可以从外壳翻 转出来。

发明的公开

发明的优点

按本发明的用于无接触的距离测量的测距仪具有外壳,该外壳具有 在测量方向上指向的外壳前侧和与该外壳前侧背离的外壳后侧,其中外 壳后侧形成用于距离测量的第一参照面,以及具有一个测量止挡体的至 少一个测量止挡,测量止挡体可以从外壳中移动出来,其特征在于,测 量止挡体这样地支承在外壳中,该测量止挡体在释放开一个止动装置之 后自动地从外壳中移出和有选择地至少移动到一个第一测量位置或一 个第二测量位置中。按照本发明的测距仪的优点在于,测量仪测量止挡 体这样地支承在仪器的外壳中,使得测量止挡体在释放开止动装置时自 动地从外壳中摆动出来和有选择地调节到一个第一测量位置和/或一个 第二测量位置上。

现代的测距仪变得越来越紧凑,在这同时这种仪器的部件的微型化 也发展到这样的程度,即外壳的机械部件的手动操作要求一定的手指技 巧或需要专门的辅助机构。

在按照本发明的测距仪中,在仪器中设置的、限定了用于距离测量 的至少一个参照点的测量止挡能够自动地例如在按钮按压时,通过释放 开止动装置移动出来,从而自动地调整到至少两个可能的测量位置之一 上。在手动地将测量止挡翻转到仪器中时该测量止挡也自动地闭锁和然 后保留在它的存放位置上。尤其是在这种情况下,外壳表面,尤其是与 测量方向背离的外壳后侧,形成一个用于距离测量的相应的参照面。这 样可以实现对测距仪和尤其是这种仪器的测量止挡的简单、方便使用者 的操作。有利地,此时测量止挡体可以至少移动到一个第一测量位置或 备选地移动到一个第二测量位置。

通过以下措施可以实现按照本发明的测距仪的有利的扩展方案和 改进。

在按照本发明的测量仪的一个有利的实施形式中,测量止挡体可以 偏转地支承在仪器的外壳中和在释放它的止动机构情况下可以自动地 从外壳中偏转出来进入它的相应的测量位置。

在它的移动出来或偏转出来的第一位置上,该位置对应于测距仪的 可能的测量位置,测量止挡体基本上垂直于仪器的第一参照面,该参照 面尤其是通过测距仪的外壳后侧形成。

在移动出来的第一测量位置上,测量止挡体,尤其是通过它的尖端, 限定了一个参照点,该参照点位于一个与外壳的第一参照面平行和间隔 开的平面中。

以有利的方式,测量止挡体在它的第二移动的测量位置上通过一个 在测量止挡体上构造的第二测量止挡限定一个参照面。

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