[发明专利]热交换器积垢检测有效
申请号: | 200880003812.4 | 申请日: | 2008-01-15 |
公开(公告)号: | CN101601023A | 公开(公告)日: | 2009-12-09 |
发明(设计)人: | 约翰·菲利普·米勒 | 申请(专利权)人: | 费舍-柔斯芒特系统股份有限公司 |
主分类号: | G06F15/00 | 分类号: | G06F15/00 |
代理公司: | 北京德琦知识产权代理有限公司 | 代理人: | 康 泉;宋志强 |
地址: | 美国德*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 热交换器 积垢 检测 | ||
1.一种检测与热交换器相关联的异常情况的方法,包括:
接收与热交换器所关联的至少一个传感器设备所检测的过程参数有关 的测量数据;
根据所述测量数据确定所述热交换器的操作特征的基线值,其中所述基 线值对应于所述热交换器的健康操作;
使用所述测量数据确定与所述操作特征相关联的一个以上统计量;和
使用所述操作特征的基线值以及与所述操作特征相关联的一个以上统 计量来检测热交换器内的异常情况;
其中所述操作特征是所述热交换器的热阻其中U是每单位表面积 的平均热传送系数,并且A是热传送的表面积。
2.根据权利要求1所述的方法,其中所述异常情况包括热交换器积垢。
3.根据权利要求1所述的方法,其中所述过程参数涉及以下中至少之 一:第一流体入口温度、第一流体出口温度、第一流体流速、第二流体入口 温度、第二流体出口温度或第二流体流速。
4.根据权利要求1所述的方法,其中所述过程参数是由以下组成的过 程参数的组中的一项:第一流体控制阀的控制需求CD(h)、第二流体控制阀 的控制需求CD(c)、主级联控制环路的温度设定点SP(t)、第一流体流速控制 的设定点SP(h)、热交换器两端第一流体方面的差压DP(h)、第一流体控制 阀的阀位置VP(h)、第二流体控制阀的阀位置VP(c)和第二流体流速的设定 点SP(c)。
5.根据权利要求1所述的方法,进一步包括对所述测量数据进行处理 以生成处理后的数据,并且其中确定与所述操作特征相关联的一个以上统计 量包括使用所述处理后的数据确定所述一个以上统计量。
6.根据权利要求1所述的方法,其中使用所述操作特征的基线值以及 与所述操作特征相关联的一个以上统计量来检测热交换器内的异常情况包 括:将所述操作特征的基线值与与所述操作特征相关联的一个以上统计量进 行比较以检测异常情况。
7.根据权利要求1所述的方法,其中使用所述操作特征的基线值以及 与所述操作特征相关联的一个以上统计量来检测热交换器内的异常情况包 括:检测所述操作特征的变化速率。
8.根据权利要求6所述的方法,其中将所述操作特征的基线值与与所 述操作特征相关联的一个以上统计量进行比较来检测热交换器内的异常情 况包括:评估与所述操作特征相关联的一个以上统计量中的每一个统计量与 所述操作特征的基线值的相对偏离。
9.根据权利要求1所述的方法,其中确定与所述操作特征相关联的一 个以上统计量包括:提供与过程设备相关联的统计过程监控SPM块,所述 SPM块被配置为监控所述操作特征并提供所述一个以上统计量。
10.一种检测热交换器中的异常情况的方法,包括:
提供与热交换器相关联的多个统计过程监控SPM块,每个SPM块接收 与热交换器相关联的过程参数的测量值,并且根据所述过程参数测量值来确 定所述过程参数的统计量,以提供多个统计量;
提供所述统计量中的每个统计量的基线值;
确定每个统计量与其所关联的基线值之间的差;
计算所述热交换器的热阻的基线值,其中U是每单位表面积的平均 热传送系数,并且A是热传送的表面积;
在计算所述热阻的基线值之后,基于所述过程参数测量值监控所述 热交换器的热阻和
基于所述过程参数的统计量与所述过程参数的统计量的相应基线值之 间的差,并且进一步基于所述热交换器的所监控的热阻与所述热交换器 的热阻的基线值之间的差,来检测热交换器内异常情况的存在。
11.根据权利要求10所述的方法,进一步包括:提供根本原因诊断RCD 表,并且在所述RCD表内组织所述过程参数的统计量。
12.根据权利要求10所述的方法,其中所述异常情况包括热交换器积 垢。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于费舍-柔斯芒特系统股份有限公司,未经费舍-柔斯芒特系统股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200880003812.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:使用WPS的自动自组织网络创建和联合
- 下一篇:存储装置、存储系统及其控制