[发明专利]用于光子计数探测器的事件共享恢复有效
| 申请号： | 200880003815.8 | 申请日： | 2008-01-28 |
| 公开（公告）号： | CN101600974A | 公开（公告）日： | 2009-12-09 |
| 发明（设计）人： | R·普罗克绍 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/29 | 分类号： | G01T1/29 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 邬少俊;王 英 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 光子 计数 探测器 事件 共享 恢复 | ||
1.一种用于执行并发探测和校正的探测器装置(200)，所述探测器装 置(200)包括：
第一探测器单元(201)和第二探测器单元(202)，所述第一探测器单 元适于探测第一脉冲，产生第一探测数据，所述第二探测器单元适于探测 第二脉冲，产生第二探测数据；以及
并发探测和校正单元(203)，耦合到所述第一和第二探测器单元并适 于探测所述第一和第二脉冲的并发；
其中，如果探测到并发，则所述并发探测和校正单元(203)还适于对 所述第一探测数据进行校正，
其中，所述探测器装置(200)还包括适于探测第三脉冲的第三探测器 单元(204)；并且
其中，所述第一、第二和第三探测器单元(201，202，204)的形状使 得所述第一和第二脉冲的并发可能性大于所述第一和第三脉冲的并发可能 性，
其中，所述并发探测和校正单元(203)还包括用于测量所述第一和第 二脉冲的脉冲形状相似性的测量装置，并且
其中，所述第一探测器单元(201)适于产生对应于所述第一脉冲的第 一测量结果和第二测量结果；
其中，所述第一测量结果对应于所述第一脉冲的第一时间，并且其中， 所述第二测量结果对应于所述第一脉冲的第一能量；
其中，所述第二探测器单元(202)适于产生对应于所述第二脉冲的第 三测量结果和第四测量结果；
其中，所述第三测量结果对应于所述第二脉冲的第二时间，并且其中， 所述第四测量结果对应于所述第二脉冲的第二能量；
其中，以以下方式进行所述并发的探测：
如果所述第一脉冲和第二脉冲的相似性测量结果超过用于探测脉冲共 享的相似性测量的阈值(Ts)且所述第一时间和第二时间的绝对差低于用于 脉冲共享的允许时间窗口(T1)，且所述第一能量和第二能量之和不超过用 于X射线光子的最大能量(Te)，则假设是脉冲共享；
如果所述第一时间和第二时间的绝对差低于用于荧光的允许时间窗口 (T2)，且所述第一能量或第二能量对应于所采取的荧光能量水平之一，且 所述第一能量和第二能量之和不超过用于X射线光子的最大能量(Te)，则 假设是荧光；
如果脉冲共享或荧光被探测到且具有最高的优先级，则进行所述第一 探测数据的校正。
2.根据权利要求1所述的探测器装置(200)，
其中，所述第一、第二和第三探测器单元(201，202，204)具有矩形 形状，并且其中，所述并发探测和校正单元(203)耦合到所述第一和第二 探测器单元(201，202)的长边。
3.根据权利要求1所述的探测器装置(200)，
其中，所述探测器装置(200)适用于计算机断层摄影检验设备。
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