[发明专利]对过零点附近进行采样的电压偏移和时钟偏移的修正

说明书

技术领域

本实施方式涉及接收机电路。更具体地，本实施方式涉及用于 确定和修正接收机电路中的偏移电压的电路和方法。

附图说明

图1是示出了存储器系统的实施方式的框图；

图2A是示出了存储器控制器的实施方式的框图；

图2B是示出了存储器器件的实施方式的框图；

图3A是示出了接收机电路的实施方式的框图；

图3B是示出了接收机电路的实施方式的框图；

图4A是示出了信号的实施方式的时序图；

图4B是示出了信号的实施方式的时序图；

图4C是示出了信号的实施方式的时序图；

图5A是示出了信号的实施方式的时序图；

图5B是示出了信号的实施方式的时序图；

图5C是示出了信号的实施方式的时序图；

图5D是示出了信号的实施方式的时序图；

图6是示出了用于校准接收机电路的过程的实施方式的流程图；

图7是示出了系统的实施方式的框图。

注意，贯穿整个附图，类似的参考标号表示相应的部件。

具体实施方式

提供以下描述以使得本领域技术人员能够制造和使用所公开的 实施方式，并且以下描述是在特定应用的上下文中提供的。本领域 技术人员很容易明了对所公开实施方式的各种变形，并且此处所定 义的通用原理可以应用到其他实施方式中应用中，而不偏离本说明 书的精神和范围。因此，本说明书的意图不在于限制于所示实施方 式，而是遵循与此处公开的原理和特征一致的最宽范围。

描述了电路、包括此电路的存储器器件、包括此电路的存储器 控制器、包括发射机(诸如存储器控制器)和接收机(诸如存储器 器件)的系统、以及用于校准接收机电路的偏移电压(针对电压模 式)和/或偏移电路(针对电流模式)的技术的实施方式。在有些实 施方式中，电路是部署在半导体晶片上的集成电路。而且要注意， 校准技术可以使用硬件和/或软件(诸如固件)来实现。尽管使用存 储器系统作为以下实施方式的示意性示例，但是注意，可以在广泛 的应用中使用本校准技术，这些应用包括串行链路和/或并行链路， 包括芯片间通信和芯片内通信。而且，尽管使用对一个或多个偏移 电压的校准作为以下实施方式的示意性示例，但是该校准技术可以 用于校准一个或多个偏移电流。

在校准技术中，时钟数据恢复(CDR)电路(其可以实现早/晚 CDR技术)以及偏移校准电路用于确定和调整接收机中给定采样器 的偏移电压。具体地，可以使用CDR电路来调整一对采样器对所采 集的样本的采样时间，从而使采样时间接近于与接收机所接收的信 号相关联的眼图边沿处的信号交叉点。接下来，偏移校准电路可以 用于确定并调整给定采样器在接近该信号交叉点的定时区域内的偏 移电压，其中CDR电路基于当前偏移电压而在当前采样时间附近抖 动(dither)。通过这种方式，CDR电路和偏移校准电路可以迭代收 敛到信号交叉点以及该给定采样器的残余偏移电压上。

在有些实施方式中，在校准操作模式期间确定偏移电压，在此 期间，所接收的信号包括训练模式。例如，可以在初始启动期间校 准偏移电压(其有时称为启动校准模式)或者根据需要进行校准(诸 如当在电路或器件的通信期间性能度量发生恶化时)。然而在有些 实施方式中，偏移电压是在常规操作模式期间使用现场数据来确定 的(其有时称为实时校准模式)。例如，接收机中一对附加采样器 对具有独立于上述采样器对的采样时间，其可以对接近眼图中心(在 该处有明显的定时余量)的信号进行采样。基于这些样本，电路中 的控制逻辑可以识别信号中的特定数据模式，并且该数据模式的样 本可以由上述采样器对进行采集，以确定和调整给定采样器的偏移 电压。随后，这两对采样器对的角色可以颠倒(例如，通过调整采 样器对与附加采样器对的采样时间的相位)，从而促进校准此附加 采样器对中的采样器的偏移电压。

注意，控制逻辑随后可以选择另一采样器进行偏移电压校准。 通过这种方式，接收机中所有采样器的偏移电压都可以顺序地确定 和调整。