[发明专利]衍射光学元件及光拾取装置无效

专利信息
申请号: 200880005673.9 申请日: 2008-02-19
公开(公告)号: CN101617364A 公开(公告)日: 2009-12-30
发明(设计)人: 篠田昌久;松原大介;中井贤也;中原宏勋 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: G11B7/135 分类号: G11B7/135;G02B5/18;G11B7/09
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 黄纶伟
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 衍射 光学 元件 拾取 装置
【权利要求书】:

1.一种光拾取装置,其特征在于,该光拾取装置具有:

激光光源,其激发以第1波长为中心波长的第1激光、以波长长于 所述第1波长的第2波长为中心波长的第2激光、和以波长长于所述第2 波长的第3波长为中心波长的第3激光;

物镜,其使所述第1激光、所述第2激光和所述第3激光会聚到光 盘;

伺服机构,其使所述物镜的位置改变;

柱面透镜,其配置在从所述光盘反射的反射光路上,并且位于光束 分离器和下述衍射光学元件之间,对从所述光束分离器反射的来自所述 光盘的反射激光施加像散,所述光盘被照射所述第1激光、所述第2激 光和所述第3激光中的任一激光;

衍射光学元件,其关于施加了像散的所述第1激光和所述2激光, 分别使0次光成为其最大分量,并且关于施加了像散的所述第3激光, 使+1次光或-1次光成为其最大分量;或者关于施加了像散的所述第2 激光和所述第3激光,分别使0次光成为其最大分量,并且关于施加了 像散的所述第1激光,使+1次光或-1次光成为其最大分量;和

单一的光检测器,其检测从所述衍射光学元件射出的所述第1激光 的衍射光即第1衍射光、所述第2激光的衍射光即第2衍射光、和所述 第3激光的衍射光即第3衍射光。

2.根据权利要求1所述的光拾取装置,其特征在于,该光拾取装置 具有检测电路,所述检测电路具有根据从所述光检测器输出的检测信号 生成焦点偏移检测信号的焦点偏移检测电路、和根据从所述光检测器输 出的检测信号生成循轨误差检测信号的循轨误差检测电路,

所述伺服机构根据所述光检测器的输出来使所述物镜的位置改变。

3.根据权利要求1所述的光拾取装置,其特征在于,

在入射了所述第1激光时,所述衍射光学元件射出所述第1衍射光; 在入射了所述第2激光时,所述衍射光学元件射出所述第2衍射光;在 入射了所述第3激光时,所述衍射光学元件射出所述第3衍射光,

所述衍射光学元件如下构成:关于所述第1衍射光和所述第2衍射 光,分别使0次光成为其最大分量,并且关于所述第3衍射光,使+1次 光或-1次光成为其最大分量;或者关于所述第2衍射光和所述第3衍射 光,分别使0次光成为其最大分量,并且关于所述第1衍射光,使+1次 光或-1次光成为其最大分量。

4.根据权利要求1所述的光拾取装置,其特征在于,所述第1激光 是蓝色激光,所述第2激光是红色激光,所述第3激光是红外激光。

5.根据权利要求1所述的光拾取装置,其特征在于,所述第1波长 为0.405μm,所述第2波长为0.65μm,所述第3波长为0.78μm。

6.根据权利要求1所述的光拾取装置,其特征在于,所述衍射光学 元件具有:被入射激光而射出衍射光的第1衍射区域;和第2衍射区域, 其是与所述第1衍射区域不同的区域,被入射激光而射出衍射光;

所述第1衍射区域和所述第2衍射区域构成为,使在激光入射到所 述第1衍射区域时从所述第1衍射区域射出的+1次光的前进方向、与在 相同激光入射到所述第2衍射区域时从所述第2衍射区域射出的+1次光 的前进方向不同,使在激光入射到所述第1衍射区域时从所述第1衍射 区域射出的-1次光的前进方向、与在相同激光入射到所述第2衍射区域 时从所述第2衍射区域射出的-1次光的前进方向不同。

7.根据权利要求1所述的光拾取装置,其特征在于,所述衍射光学 元件被与所述衍射光学元件的光轴交叉的两条直线分割成4个衍射区域,

所述4个衍射区域中配置在以所述光轴为中心的对称的位置处的两 个衍射区域是所述第1衍射区域,

所述4个衍射区域中的其他两个衍射区域是所述第2衍射区域。

8.根据权利要求1所述的光拾取装置,其特征在于,所述衍射光学 元件具有设有多个台阶状的衍射光栅槽的光学部件。

9.根据权利要求1所述的光拾取装置,其特征在于,所述衍射光学 元件具有设有多个闪耀型衍射光栅槽的光学部件。

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