[发明专利]具有X射线荧光及电火花发射光谱分析功能的仪器

权利要求书

1.一种分析仪器，包括：

平台，用于支撑一个具有相对朝向的第一表面和第二表面的样品；

X射线源，放置成用X射线束辐射样品第一表面；

至少一个X射线探测器，设置成探测样品响应X射线束的辐射而发射的X射 线荧光；

火花电极，放置成邻近所述第二表面，在所述火花电极上施加一个可控电压， 使所述第二表面上或邻近所述第二表面处产生一个放电来激发所述样品的原子；以 及，

至少一个发射探测器，用于探测受激原子发射的光线，

其特征在于：

所述样品的元素组分可同时被X射线荧光技术和电火花发射光谱技术分析。

2.根据权利要求1所述的仪器，其中所述X射线源和所述至少一个X射线探 测器包含在便携式X射线荧光分析设备的容器中，且所述便携式X射线荧光分析 设备可移动地与一个插接站耦合。

3.根据权利要求2所述的仪器，其中所述插接站具有一个或多个附件，所述附 件能根据所述便携式X射线荧光分析设备的容器的特征可释放地操作。

4.根据权利要求2所述的仪器，其中所述插接站的内部空间具有一个位于X 射线荧光分析设备和样品之间的密封区域。

5.根据权利要求4所述的仪器，其中所述的密封区域部分至少部分地延伸到由 所述便携式X射线荧光分析设备的容器所确定的内部空间内。

6.根据权利要求4所述的仪器，其中所述插接站包括一个端口，所述端口和一 个气源或泵相连通，用于分别向所述密封区域鼓吹气体或对所述密封区域抽真空。

7.根据权利要求1所述的仪器，其中火花电极位于充满氩气的腔内。

8.根据权利要求1所述的仪器，还包括一个公共计算设备，其用于协调样品的 XRF分析和电火花发射光谱分析。

9.根据权利要求1所述的仪器，其中所述平台具有孔，以允许接触样品的所述 第二表面。

10.一种分析样品的方法，所述样品具有相对朝向的第一表面和第二表面，包 括：

(a)用X射线束辐射所述第一表面；

(b)探测所述样品响应所述X射线束辐射而发射的X射线荧光；

(c)在所述第二表面上或邻近所述第二表面处产生电子放电，并探测由所述样 品的受激原子发射的响应光线。

11.根据权利要求10所述的方法，还包括确定来自被探测的荧光X射线的第 一组元素组分数据和来自被发射光线的第二组元素组分数据。

12.根据权利要求10或11所述的方法，其中步骤(a)、(b)和(c)可在时间上重叠。

13.根据权利要求10所述的方法，还包括在邻近所述样品的所述第一表面处进 行排空或鼓吹氦气的步骤。

14.根据权利要求10所述的方法，还包括在邻近所述样品的所述第二表面处进 行鼓吹氩气的步骤。