[发明专利]增强的单一传感器位置检测无效
申请号: | 200880006044.8 | 申请日: | 2008-02-22 |
公开(公告)号: | CN101632029A | 公开(公告)日: | 2010-01-20 |
发明(设计)人: | 阿蒂德·沙梅伊 | 申请(专利权)人: | 格斯图尔泰克股份有限公司 |
主分类号: | G01V8/00 | 分类号: | G01V8/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 邵亚丽 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 增强 单一 传感器 位置 检测 | ||
1.一种用于确定对象的位置的系统,包括:
第一信号发射器,用于选择性地发射第一信号;
第二信号发射器,用于选择性地发射第二信号;
传感器,用于监视平面,在该对象反射第一信号和第二信号中的每一个之后接收第一信号和第二信号,并基于所述第一和第二信号生成应答信号;和
处理器,被配置为处理该应答信号,并基于该应答信号确定对象在该平面中的位置。
2.根据权利要求1的系统,其中该处理器还被配置为基于该应答信号确定第一和第二几何形状,并基于所述几何形状的交叉点来确定对象的位置。
3.根据权利要求1的系统,其中该处理器还被配置为确定第一信号的第一飞行时间和第二信号的第二飞行时间,并基于所述第一和第二飞行时间来确定对象的位置。
4.根据权利要求1的系统,还包括用于聚集所述第一和第二信号的通道。
5.根据权利要求1的系统,其中该第一信号包括第一频率,该第二信号包括第二频率,并且该传感器包括对所述第一和第二信号进行采样的采样率。
6.根据权利要求5的系统,其中该采样率包括大于所述第一和第二频率两者的采样频率。
7.根据权利要求1的系统,其中所述第一和第二发射器、以及该传感器沿着公共轴对齐。
8.一种确定对象的位置的方法,包括:
从第一发射器发射第一信号;
从第二发射器发射第二信号;
使用传感器监视平面;
在从该对象反射该第一信号和该第二信号中的每一个之后,在该传感器处接收该第一信号和该第二信号;
基于所述第一和第二信号生成应答信号;和
处理该应答信号,以确定对象在平面中的位置。
9.根据权利要求8的方法,还包括:
基于该应答信号确定第一和第二几何形状;和
基于所述几何形状的交叉点来确定对象的位置。
10.根据权利要求8的方法,还包括:
确定第一信号的第一飞行时间和第二信号的第二飞行时间;和
基于所述第一和第二飞行时间来确定对象的位置。
11.根据权利要求8的方法,还包括提供用于聚集所述第一和第二信号的通道。
12.根据权利要求8的方法,其中该第一信号包括第一频率,该第二信号包括第二频率,并且该传感器包括对所述第一和第二信号进行采样的采样率。
13.根据权利要求12的方法,其中该采样率包括大于所述第一和第二频率中的任一个的采样频率。
14.根据权利要求8的方法,还包括沿着公共轴对齐所述第一和第二发射器、以及该传感器。
15.一种用于跟踪对象的移动的方法,包括:
从第一发射器发射第一信号;
从第二发射器发射第二信号;
使用第一传感器监视第一平面;
在从该第一平面中的该对象反射该第一信号和该第二信号中的每一个之后,在该第一传感器处接收该第一信号和该第二信号;
基于所述第一和第二信号生成第一应答信号;和
处理该第一应答信号,以在第一时间确定对象的第一位置。
16.根据权利要求15的方法,还包括:
处理该第一应答信号,以确定对象的第二位置;和
基于该第一位置和该第二位置来确定对象的移动。
17.根据权利要求15的方法,还包括:
处理该第一应答信号,以在第二时间确定该对象的第二位置;和
基于所述第一和第二位置以及所述第一和第二时间,来确定对象的速度。
18.根据权利要求15的方法,还包括:
使用第二传感器监视第二平面;
在从该第二平面中的该对象反射该第一信号和该第二信号中的每一个之后,在该第二传感器处接收该第一信号和该第二信号;
基于所述第一和第二信号生成第二应答信号;和
处理该第二应答信号,以在第二时间确定对象的第二位置。
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