[发明专利]激光光源、使用激光光源的图像显示装置以及加工装置

权利要求书

1.一种激光光源，其特征在于包括：

激励光光源；

波长转换元件，采用非线性光学晶体，具有让来自所述激励光光源的激励光经过的多条光路，通过将经过所述多条光路的激励光转换为波长转换光，生成具有第一温度特性且向装置外部射出的输出光和具有与所述第一温度特性不同的第二温度特性的参照光；

参照光测量部，测量所述参照光；以及

控制部，基于由所述参照光测量部测量到的参照光，控制所述波长转换元件的温度。

2.根据权利要求1所述的激光光源，其特征在于：

所述输出光，具有在第一元件温度下达到最大值的第一温度特性，

所述参照光，具有在与所述第一元件温度不同的第二元件温度下达到最大值的第二温度特性，

所述参照光的强度，在所述输出光的强度达到最大值的元件温度下，为所述参照光的最大值的15％以上85％以下。

3.根据权利要求1或2所述的激光光源，其特征在于：所述控制部，预先存储所述输出光的强度达到最大值的元件温度下的所述参照光的强度，调整所述波长转换元件的温度，以使由所述参照光测量部测量到的参照光的强度达到所存储的参照光的强度。

4.根据权利要求1或2所述的激光光源，其特征在于：所述控制部，根据由所述参照光测量部测量到的参照光计算所述波长转换元件的标准化波长转换效率，并预先存储所述输出光的强度达到最大值的元件温度下的标准化波长转换效率，调整所述波长转换元件的温度，以使根据由所述参照光测量部测量到的参照光计算出的标准化波长转换效率达到所存储的标准化波长转换效率。

5.根据权利要求1或2所述的激光光源，其特征在于：

所述参照光测量部包括，测量具有在低于所述第一元件温度的低温下达到最大值的向低温一侧移动的温度特性的第一参照光的第一参照光测量部，和测量具有在高于所述第一元件温度的高温下达到最大值的向高温一侧移动的温度特性的第二参照光的第二参照光测量部；

所述控制部，计算由所述第一及第二参照光测量部测量到的第一及第二参照光的输出比，并预先存储所述输出光的强度达到最大值的元件温度下的第一及第二参照光的输出比，调整所述波长转换元件的温度，以使根据由所述第一及第二参照光测量部测量到的第一及第二参照光计算出的输出比达到所存储的输出比。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的激光光源，其特征在于还包括：测量所述输出光的一部分的输出光测量部，其中，

所述控制部，基于由所述输出测量部测量到的输出光，控制所述激励光光源，以使输出到装置外部的所述输出光的强度为恒定。

7.根据权利要求6所述的激光光源，其特征在于还包括：测量从所述波长转换元件射出的激励光的激励光测量部。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的激光光源，其特征在于：所述波长转换元件为体型波长转换元件。

9.根据权利要求1至7中任一项所述的激光光源，其特征在于：所述波长转换元件为板波导路型波长转换元件。

10.根据权利要求1至9中任一项所述的激光光源，其特征在于：所述波长转换元件为准相位匹配波长转换元件。

11.根据权利要求10所述的激光光源，其特征在于：所述波长转换元件的生成所述参照光的激励光光路中的极化反转周期，与生成所述输出光的激励光光路中的极化反转周期不同。

12.一种激光光源，其特征在于包括：

激励光光源；

波长转换元件，采用非线性光学晶体，将来自所述激励光光源的激励光转换为波长不同的波长转换光；

输出光测量部，将从所述波长转换元件射出的波长转换光的一部分作为输出光加以测量；以及

控制部，同时进行基于由所述输出测量部测量到的输出光控制所述激励光光源以使所述波长转换光的强度为恒定的输出恒定控制，和调整所述波长转换元件的温度以使所述波长转换元件的温度接近相位匹配温度的温度控制。

13.根据权利要求12所述的激光光源，其特征在于：所述控制部同时进行所述输出恒定控制，和加热或冷却所述波长转换元件以使入射到所述波长转换元件的激励光的强度达到最小的温度控制。