[发明专利]用于组织的光学分析的方法和设备

权利要求书

1.分析组织(70)的方法，其包括：

-用在聚焦区域(40)聚焦的光照射组织(70)；

-将从聚焦区域(40)返回的光采集到第一探测设备(100A)中， 所述第一探测设备(100A)被设置为在第一探测区域(140A) 上通过共焦光谱法仅采集从聚焦区域(40)返回的光，以生成 包含关于组织的光学属性的信息的第一信号；

-将从聚焦区域(40)散射到至少第二区域(60)并从第二区域 (60)返回的光收集到第二探测设备(100B)中，所述第二探 测设备(100B)被设置为在第二探测区域(140B)上仅采集从 第二区域(60)返回的光，以生成第二信号，

-使用第一和第二信号以获得关于在聚焦区域(40)和第二区域 (60)之间的区域中的组织(70)的散射和/或吸收系数的信 息，

其中，所述第一探测设备(100A)包括第一探测器(120A)和第 一孔(110A)，所述第一孔(110A)位于所述第一探测器(120A)前 方从而仅仅透过来自所述聚焦区域(40)的光，并且其中所述第二探 测设备(100B)包括第二探测器(120B)和第二孔(110B)，所述第 二孔(110B)位于所述第二探测器(120B)前方从而仅仅透过来自所 述第二区域(60)的光，所述探测设备(100A，100B)包括至少一个 板，并且所述孔(110A，110B)在所述至少一个板中。

2.根据权利要求1所述的方法，其中为了通过共焦光谱法扫描组 织(70)而照射多个聚焦区域(40)，以获得关于组织(70)的3D结 构的信息，并且组合关于散射和/或吸收系数的信息与关于组织(70) 的3D结构的信息，以获得作为组织(70)中的3D位置的函数的关于 组织(70)的散射和/或吸收系数的信息。

3.根据权利要求2所述的方法，其中对于每个聚焦区域(40)从 多个第二区域(60)采集光。

4.根据权利要求1所述的方法，其中所 述探测设备(100A，100B)被进一步设置以测量组织(70)的荧光。

5.用于分析组织(70)的设备，其包括：

-用在聚焦区域(40)聚焦的光照射组织(70)的装置(10)；

-用于采集从聚焦区域(40)返回的光的第一探测设备(100A)， 所述第一探测设备(100A)被设置为在第一探测区域(140A) 上通过共焦光谱法仅采集从聚焦区域(40)返回的光，以生成 包含关于组织(70)的光学属性的信息的第一信号；

-用于采集从聚焦区域(40)散射到至少第二区域(60)且从第 二区域(60)返回的光的第二探测设备(100B)，所述第二探 测设备(100B)被设置为在第二探测区域(140B)上仅采集从 第二区域(60)返回的光，以生成第二信号，

-用于使用第一和第二信号以获得关于在聚焦区域和第二区域之 间的区域中的组织(70)的散射和/或吸收系数的信息的装置，

其中，所述第一探测设备(100A)包括第一探测器(120A)和第 一孔(110A)，所述第一孔(110A)位于所述第一探测器(120A)前 方从而仅仅透过来自所述聚焦区域(40)的光，并且其中所述第二探 测设备(100B)包括第二探测器(120B)和第二孔(110B)，所述第 二孔(110B)位于所述第二探测器(120B)前方从而仅仅透过来自所 述第二区域(60)的光，所述探测设备(100A，100B)包括至少一个 板，并且所述孔(110A，110B)在所述至少一个板中。

6.根据权利要求5所述的设备，其中第一和第二探测设备(100A， 100B)的每一个都包括位于探测器(120A，120B)前方且具有至少一 个孔(110A，110B)以定义探测区域(140A，140B)的板。

7.根据权利要求6所述的设备，其中所述探测器(120A，120B) 不在同一平面内。

8.根据权利要求5所述的设备，其中所述探测设备(100A，100B) 均包括置于各探测器前方的且具有至少一个孔的公共板。