[发明专利]光电变换装置及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200880006731.X 申请日: 2008-02-08
公开(公告)号: CN101622719A 公开(公告)日: 2010-01-06
发明(设计)人: 小林靖之;坂井智嗣;山口贤刚;浅原裕司;吴屋真之 申请(专利权)人: 三菱重工业株式会社
主分类号: H01L31/04 分类号: H01L31/04
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 高培培;车 文
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 光电 变换 装置 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种光电变换装置,具备:

被层叠的至少二层光电变换层、和

介于所述二层光电变换层之间且对该二层光电变换层进行电连接 及光学连接的中间层,

所述光电变换装置中,在所述中间层的表面上具有等离子体抗性 保护层,

所述等离子体抗性保护层由SiOC构成,

在SiOC中,氧组成为20~60%、碳组成为30~5%。

2.如权利要求1所述的光电变换装置,所述等离子体抗性保护层 的膜厚为2nm以上且30nm以下。

3.一种光电变换装置的制造方法,所述光电变换装置具备:

被层叠的至少二层光电变换层、和

介于所述二层光电变换层之间且对该二层光电变换层进行电连接 及光学连接的中间层,

所述光电变换装置的制造方法中,通过Ar/O2气体组成的溅射而 在所述中间层的表面上形成等离子体抗性保护层,

所述等离子体抗性保护层由SiOC构成,

在SiOC中,氧组成为20~60%、碳组成为30~5%。

4.一种光电变换装置,具备:

被层叠的至少二层光电变换层、和

介于所述二层光电变换层之间且对该二层光电变换层进行电连接 及光学连接的中间层,

所述光电变换装置中,所述中间层具有透明导电膜/透明膜/透明导 电膜共计三层的层叠结构,

所述透明膜是由SiOC构成的层,

在SiOC中,氧组成为20~60%、碳组成为30~5%。

5.如权利要求4所述的光电变换装置,所述透明导电膜由包含 ZnO的材料构成。

6.如权利要求4或5所述的光电变换装置,所述透明导电膜的膜 厚为5nm以上且100nm以下。

7.如权利要求4所述的光电变换装置,所述透明膜的膜厚为2nm 以上且30nm以下。

8.一种光电变换装置的制造方法,所述光电变换装置具备:

被层叠的至少二层光电变换层、和

介于所述二层光电变换层之间且对该二层光电变换层进行电连接 及光学连接的中间层,

所述光电变换装置的制造方法中,所述中间层具有透明导电膜/透 明膜/透明导电膜共计三层的层叠结构,通过Ar/O2气体组成的溅射来 形成所述透明膜,

所述透明膜是由SiOC构成的层,

在SiOC中,氧组成为20~60%、碳组成为30~5%。

9.一种光电变换装置,具备:

被层叠的至少二层光电变换层、和

介于所述二层光电变换层之间且对该二层光电变换层进行电连接 及光学连接的中间层,

所述光电变换装置中,所述中间层具有透明导电膜/透明膜/透明导 电膜/透明膜/透明导电膜共计五层的层叠结构,

所述透明膜是由SiOC构成的层,

在SiOC中,氧组成为20~60%、碳组成为30~5%。

10.如权利要求9所述的光电变换装置,所述透明导电膜由包含 ZnO的材料构成。

11.如权利要求9或10所述的光电变换装置,所述透明导电膜的 膜厚为5nm以上且100nm以下。

12.如权利要求9所述的光电变换装置,所述透明膜的膜厚为2nm 以上且30nm以下。

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