[发明专利]X射线检查装置和生产系统有效

专利信息
申请号: 200880008008.5 申请日: 2008-03-07
公开(公告)号: CN101632014A 公开(公告)日: 2010-01-20
发明(设计)人: 株本隆司;广瀬修 申请(专利权)人: 株式会社石田
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 代理人: 龙 淳
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 射线 检查 装置 生产 系统
【权利要求书】:

1.一种X射线检查装置,用于一边对物品进行搬送一边向所述物 品照射X射线来对所述物品进行检查,包括:

搬送装置,用于对所述物品进行搬送;

辨别装置,用于辨别所述物品是试件还是商品;和

运转控制装置,在由所述辨别装置辨别为所述物品是商品时,将X 射线检查装置的运转设定为判定该商品是否合格的通常模式,在由所 述辨别装置辨别为所述物品是试件时,将X射线检查装置的运转设定 为对X射线检查装置的状态进行检查的测试模式,在所述测试模式下, 对所述试件中的测试异物进行判别。

2.如权利要求1所述的X射线检查装置,其特征在于:

所述辨别装置,通过将照射到所述物品的X射线的透射图像与规 定的辨别基准进行比较,来进行所述辨别。

3.如权利要求2所述的X射线检查装置,其特征在于:

还包括第一存储部,其用于存储所述规定的辨别基准,

所述辨别装置根据照射到所述物品的X射线的透射图像和被存储 在所述第一存储部的所述规定的辨别基准来进行所述辨别。

4.如权利要求3所述的X射线检查装置,其特征在于:

还包括实施登录模式的登录装置,该登录装置用于从照射到试件 的X射线的透射图像获得所述规定的辨别基准,并将所述规定的辨别 基准存储在所述第一存储部。

5.如权利要求4所述的X射线检查装置,其特征在于:

还包括第二存储部,用于在所述登录模式下存储与设在所述试件 中的异物相对应的阈值,

在所述测试模式下,根据存储在所述第二存储部中的阈值、和照 射到由所述辨别装置辨别为试件的所述物品的X射线的透射图像,对 X射线检查装置的状态进行检查。

6.如权利要求1所述的X射线检查装置,其特征在于:

所述辨别装置,根据搬送所述物品的时机进行所述辨别。

7.一种生产系统,包括:

权利要求1至6中任一项所述的X射线检查装置;和

被配置在所述X射线检查装置的上游的生产机器,

所述试件由所述生产机器投入。

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