[发明专利]X射线检查装置和生产系统有效
申请号: | 200880008008.5 | 申请日: | 2008-03-07 |
公开(公告)号: | CN101632014A | 公开(公告)日: | 2010-01-20 |
发明(设计)人: | 株本隆司;广瀬修 | 申请(专利权)人: | 株式会社石田 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 | 代理人: | 龙 淳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 射线 检查 装置 生产 系统 | ||
1.一种X射线检查装置,用于一边对物品进行搬送一边向所述物 品照射X射线来对所述物品进行检查,包括:
搬送装置,用于对所述物品进行搬送;
辨别装置,用于辨别所述物品是试件还是商品;和
运转控制装置,在由所述辨别装置辨别为所述物品是商品时,将X 射线检查装置的运转设定为判定该商品是否合格的通常模式,在由所 述辨别装置辨别为所述物品是试件时,将X射线检查装置的运转设定 为对X射线检查装置的状态进行检查的测试模式,在所述测试模式下, 对所述试件中的测试异物进行判别。
2.如权利要求1所述的X射线检查装置,其特征在于:
所述辨别装置,通过将照射到所述物品的X射线的透射图像与规 定的辨别基准进行比较,来进行所述辨别。
3.如权利要求2所述的X射线检查装置,其特征在于:
还包括第一存储部,其用于存储所述规定的辨别基准,
所述辨别装置根据照射到所述物品的X射线的透射图像和被存储 在所述第一存储部的所述规定的辨别基准来进行所述辨别。
4.如权利要求3所述的X射线检查装置,其特征在于:
还包括实施登录模式的登录装置,该登录装置用于从照射到试件 的X射线的透射图像获得所述规定的辨别基准,并将所述规定的辨别 基准存储在所述第一存储部。
5.如权利要求4所述的X射线检查装置,其特征在于:
还包括第二存储部,用于在所述登录模式下存储与设在所述试件 中的异物相对应的阈值,
在所述测试模式下,根据存储在所述第二存储部中的阈值、和照 射到由所述辨别装置辨别为试件的所述物品的X射线的透射图像,对 X射线检查装置的状态进行检查。
6.如权利要求1所述的X射线检查装置,其特征在于:
所述辨别装置,根据搬送所述物品的时机进行所述辨别。
7.一种生产系统,包括:
权利要求1至6中任一项所述的X射线检查装置;和
被配置在所述X射线检查装置的上游的生产机器,
所述试件由所述生产机器投入。
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