[发明专利]气体供给方法和气体供给装置无效

专利信息
申请号: 200880009952.2 申请日: 2008-03-26
公开(公告)号: CN101646803A 公开(公告)日: 2010-02-10
发明(设计)人: 原正道;五味淳;横山敦;田中利昌;前川伸次;多贺敏 申请(专利权)人: 东京毅力科创株式会社
主分类号: C23C16/455 分类号: C23C16/455;H01L21/285
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 代理人: 龙 淳
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 气体 供给 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种气体供给方法,其用于将原料气体供给至消耗区域,该原 料气体通过对原料容器内的固体原料进行加热并使其气化而得到,该 气体供给方法的特征在于,包括:

工序(a),使载气在与消耗区域连通的处理气体供给路内流通, 同时测定该处理气体供给路内的气体压力;

工序(b),对所述原料容器内的固体原料进行加热,产生原料气 体;

工序(c),将与所述工序(a)相同流量的载气供给至所述原料容 器内,使所述原料气体与该载气一起在所述处理气体供给路内流通, 同时测定该处理气体供给路内的气体压力;和

工序(d),根据在所述工序(a)中取得的压力测定值、在所述工 序(c)中取得的压力测定值和载气流量,计算所述原料气体的流量,

其中,原料气体流量与载气流量的流量比在1/100以下。

2.如权利要求1所述的气体供给方法,其特征在于:

在所述工序(d)后,进行如下工序,

根据在该工序(d)中得到的所述原料气体的流量计算值、和预先 设定的所述原料气体的流量设定值,控制所述固体原料的加热温度, 调节所述原料气体的流量。

3.如权利要求1或2所述的气体供给方法,其特征在于:

从所述原料容器到所述消耗区域的处理气体供给路的内径为0.75 英寸以上。

4.如权利要求1或2所述的气体供给方法,其特征在于:

所述消耗区域是用于在真空气氛下使所述原料气体分解对处理容 器内的基板进行成膜处理的处理模块。

5.一种气体供给装置,将原料气体供给至消耗区域,该原料气体 通过对原料容器内的固体原料进行加热并使其气化而得到,该气体供 给装置的特征在于,具备:

用于贮存固体原料的原料容器;

用于对原料容器内的固体原料进行加热的加热单元;

设置在载气源与所述原料容器之间的载气导入路;

设置在所述原料容器与所述消耗区域之间的处理气体供给路;

设置在所述载气导入路与所述处理气体供给路之间的旁路;

设置在所述处理气体供给路中与所述旁路的连接位置的下游侧的 压力测定部;

流路切换单元,用于将所述载气的流路在经由所述旁路从所述载 气导入路向所述处理气体供给路流通的流路、和经由所述原料容器从 所述载气导入路向所述处理气体供给路流通的流路之间进行切换;和

计算在所述处理气体供给路内流通的所述原料气体的流量的控制 部,其中,

所述控制部,

存储基准数据,该基准数据包括在使所述载气经由所述旁路在所 述处理气体供给路内流通的状态下,由所述压力测定部取得的压力测 定值和此时载气的流量,

然后,不改变该载气的流量,在使载气和原料气体经由所述原料 容器在所述处理气体供给路内流通的状态下,由所述压力测定部取得 压力测定值,

根据此时的压力测定值和所述基准数据,计算此时的原料气体的 流量。

6.如权利要求5所述的气体供给装置,其特征在于:

所述控制部根据所述原料气体的流量的计算值和预先设定的所述 原料气体的流量设定值,控制对所述加热单元的供给电力,调节所述 原料气体的流量。

7.如权利要求5或6所述的气体供给装置,其特征在于:

所述处理气体供给路的内径为0.75英寸以上。

8.一种半导体制造装置,其特征在于,具备:

权利要求5~7中任一项所述的气体供给装置;和

处理模块,其具有作为所述消耗区域的处理容器,用于在该处理 容器内,在真空气氛下使所述原料气体分解,对基板进行成膜处理,

所述控制部在所述处理模块中进行的多个成膜方案的每个中,具 备所述基准数据。

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