[发明专利]全息存储介质、记录和/或再现设备以及记录和/或再现方法无效

专利信息
申请号: 200880010025.2 申请日: 2008-01-21
公开(公告)号: CN101647065A 公开(公告)日: 2010-02-10
发明(设计)人: 郑泽成 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: G11B7/0065 分类号: G11B7/0065
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 代理人: 韩明星;马翠平
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 全息 存储 介质 记录 再现 设备 以及 方法
【说明书】:

技术领域

发明的各方面涉及一种具有增加的记录容量的全息存储介质、用于该全息存储介质的记录和/或再现设备以及用于该全息存储介质的记录和/或再现方法。

背景技术

在光学全息术中,数据不是被存储在记录介质的表面上,而是被存储在记录介质的体(volume)内。信号光束与参考光束在记录介质内干涉,从而产生被称为数据页的多个干涉光栅。干涉光栅改变参考光束的光学特性,引起重叠的发生。这一过程被称为复用。当从记录介质读取数据时,单个参考光束在与数据记录期间使用的条件相同的条件下入射到记录介质上,以产生具有存储的数据页的衍射光束。通过检测阵列来检测衍射光束,检测阵列从测量的强度图样提取存储的多个数据比特。数据页包含数据比特,所述数据比特也被称为像素。这样,当数据页在记录介质的体中重叠时,数据存储容量增加。

参照图1A,使用携带数据的信号光束S和参考光束R来将数据记录到全息存储介质100。在记录全息图100期间,如图1A所示,参考光束R和信号光束S彼此干涉以产生干涉图样,产生的干涉图样被转移到全息存储介质100。在从全息存储介质100再现数据期间,如图1B所示,将原始参考光束R辐射到全息存储介质100上记录的全息图上,记录在全息存储介质100上的记录的全息图衍射参考光束,从而输出信号光束S。然而,当用于再现数据的参考光束R不同于数据记录期间使用的原始光束时,再现光束的强度或方向不同于原始记录光束的强度或方向。通常,随着这种差异增大,辐射强度按照sinc函数所限定的形状减小。

图2是示出当将数据记录在全息存储介质100上时,信号光束S根据区域的角度的示图。参照图2,信号光束S和参考光束R入射在全息存储介质100上。信号光束S通过光学调制器(如空间光调制器(SLM)210)被调制,并按照页的形状被聚焦在全息存储介质100上。SLM 210具有平坦形状的表面。入射在全息存储介质100上的信号光束S的角度根据SLM 210的区域而不同。沿着参考光束R的扫描方向,SLM 210被划分为图2所示的a、b、c和d区域。可计算每一区域的信号光束S的入射角度和选择性(即,布拉格选择性角度)。表1中示出了计算结果。

表1

  区域a  区域b  区域c  区域d  信号光束S的  入射角度(°)  35.86  28.62  21.38  14.14  选择性(°)  0.11  0.12  0.14  0.16

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子株式会社,未经三星电子株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200880010025.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top