[发明专利]温度测定装置及温度测定方法有效

专利信息
申请号: 200880010495.9 申请日: 2008-03-25
公开(公告)号: CN101646930A 公开(公告)日: 2010-02-10
发明(设计)人: 古川雄一;中村慎吾;冈田裕二;河原文雄 申请(专利权)人: 丰田自动车株式会社;株式会社明和先进技术
主分类号: G01J5/48 分类号: G01J5/48
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 高培培;车 文
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 温度 测定 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种温度测定装置,其具备:

特征点提取单元,提取对象物的热图像中的多个特征点;

校正热图像生成单元,基于由所述特征点提取单元提取到的所述 热图像中的多个特征点的坐标及在预先拍摄的对象物的基准热图像中 设定的多个基准特征点的坐标,以使所述热图像中的多个特征点与所 述基准热图像中的相对应的所述多个基准特征点重合的方式,对所述 热图像实施旋转处理、平行移动处理或放大/缩小处理中的任一种或两 种以上处理,生成校正热图像;和

差图像生成单元,以使由所述校正热图像生成单元生成的校正热 图像中的多个特征点与所述基准热图像中的相对应的多个基准特征点 重合的方式将所述校正热图像和所述基准热图像重叠,生成作为所述 校正热图像和所述基准热图像的差分的差图像,

所述热图像中的多个特征点中的至少一个是构成所述热图像的像 素群中的单个像素或多个像素的集合体,是在对于所述热图像预先设 定的多个区域内分别具有最高的显示温度或具有最低的显示温度的单 个像素或多个像素的集合体,

所述基准热图像中的多个基准特征点中的至少一个是构成所述基 准热图像的像素群中的单个像素或多个像素的集合体,是在对于所述 基准热图像预先设定的多个区域内分别具有最高的显示温度或具有最 低的显示温度的单个像素或多个像素的集合体,

所述温度测定装置还具备拍摄所述热图像的热图像拍摄单元,

所述特征点提取单元提取3个以上特征点,该3个以上特征点中 的一个或2个特征点是利用所述热图像拍摄单元进行拍摄时相对于基 准特征点不会错位的点。

2.如权利要求1所述的温度测定装置,其中,

所述对象物是铸造用的模具,该铸造用的模具具有温度比周围高 或低的特定部位,将与该特定部位对应的单一的像素或多个像素的集 合体作为特征点而提取。

3.一种温度测定方法,其具备:

热图像拍摄工序,拍摄对象物的热图像;

特征点提取工序,提取所述热图像拍摄工序中拍摄到的对象物的 热图像中的多个特征点;

校正热图像生成工序,基于所述特征点提取工序中提取到的所述 热图像中的多个特征点的坐标、及在预先拍摄的对象物的基准热图像 中设定的多个基准特征点的坐标,以使所述热图像中的多个特征点与 所述基准热图像中的相对应的所述多个基准特征点重合的方式对所述 热图像实施旋转处理、平行移动处理或放大/缩小处理中的任一种或两 种以上处理,生成校正热图像;和

差图像生成工序,以使所述校正热图像生成工序中生成的校正热 图像中的多个特征点与所述基准热图像中的相对应的多个基准特征点 重合的方式将所述校正热图像和所述基准热图像重叠,生成作为所述 校正热图像和所述基准热图像的差分的差图像,

所述热图像中的多个特征点中的至少一个是构成所述热图像的像 素群中的单个像素或多个像素的集合体,是在对于所述热图像预先设 定的多个区域内分别具有最高的显示温度或具有最低的显示温度的单 个像素或多个像素的集合体,

所述基准热图像中的多个基准特征点中的至少一个是构成所述基 准热图像的像素群中的单个像素或多个像素的集合体,是在对于所述 基准热图像预先设定的多个区域内分别具有最高的显示温度或具有最 低的显示温度的单个像素或多个像素的集合体,

所述特征点提取单元提取3个以上特征点,该3个以上特征点中 的一个或2个特征点是利用所述热图像拍摄单元进行拍摄时相对于基 准特征点不会错位的点。

4.如权利要求3所述的温度测定方法,其中,

所述对象物是铸造用的模具,该铸造用的模具具有温度比周围高 或低的特定部位,将与该特定部位对应的单一的像素或多个像素的集 合体作为特征点而提取。

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