[发明专利]闪烁体的空间增益分布的确定

说明书

技术领域

本发明涉及辐射探测器的领域，更具体而言，涉及包括闪烁体的辐射探测器。

背景技术

EP0 642 264公开了一种图像探测设备，其具有用于探测X射线图像的半导体图像探测阵列，其中，基本上减轻了由于体模图像(phantom image)导致的扰动。根据这一参考，由于辐射传感器元件的半导体材料中的电荷捕获而导致的延迟的电荷转移引起了这种扰动。根据参考的探测设备包括图像探测阵列，其包含：辐射敏感元件，其将入射辐射转换为电荷；以及读出线，其将电荷转移至读出电路，将所述读出电路布置为将所转移的电荷转换成初级电子图像信号。探测设备还包括校正电路以形成图像校正信号，所述信号用于通过去除由于来自初级电子图像信号的延迟的电荷转移导致的伪影而将初级电子图像信号转换成校正后的图像信号。可以将图像校正信号组合为图像的指数性延迟信号的叠加，在探测到当前所探测的图像之前探测到所述图像。随后从图像校正信号和包含伪影的图像信号中组合成校正后的图像信号。

发明内容

本发明的一个目的在于提供与针对初级辐射的闪烁体的空间增益分布有关的信息。本发明的优势在于提供与针对初级辐射的与闪烁体的空间增益分布有关的该信息，而不需要对所述闪烁体施加初级辐射。

另外，实现一种用于提供与闪烁体的空间增益分布有关的信息而不需要向所述闪烁体施加初级辐射的方法或辐射探测器设备将会是有利的。

为了更好地解决这一问题，在本发明的第一方面中，提出了一种提供与针对初级辐射的闪烁体的空间增益分布有关的信息的方法。根据本发明的第一方面的方法包括如下步骤：利用次级辐射来照射闪烁体，以生成针对次级辐射的闪烁体的空间次级增益分布的图像，其中，所述空间次级增益分布图像对应于针对初级辐射的闪烁体的空间初级增益分布的图像。在本说明书和权利要求中，将“针对次级辐射的闪烁体的空间次级增益分布的图像”一词简写为“空间次级增益分布图像”。同样，将“针对初级辐射的闪烁体的空间初级增益分布的图像”一词简写为“空间初级增益分布图像”。

根据本发明的第二方面，提出了一种辐射探测器设备，其包括用于接收初级辐射并且响应所述初级辐射产生经转换的初级辐射的闪烁体。所述辐射探测器设备还包括次级辐射源，其用于向闪烁体施加次级辐射以针对次级辐射生成闪烁体的空间次级增益分布的图像，其中，空间次级增益分布图像与针对初级辐射的闪烁体的空间初级增益分布图像相对应。

根据本发明的一个实施例，提出了一种方法，其还包括从闪烁体读取空间次级增益分布图像的步骤。

根据本发明的另一实施例，提供相应的辐射探测器，所述辐射探测器包括用于从闪烁体读取次级空间增益分布图像的读出单元。

根据本发明的另一实施例，提出了一种方法，其还包括通过相同的光探测器从闪烁体读取空间次级增益分布图像，所述相同的光探测器用于响应入射初级辐射来读取由闪烁体生成的转换后的初级辐射。该实施例的优势在于不需要用于读取空间次级增益分布图像的额外的光探测器。该实施例的另一优势在于从闪烁体开始，空间次级增益分布图像的光的光路径与转换后的初级辐射的光路径相同。

根据本发明的另一实施例，提出了相应的辐射探测器设备，所述辐射探测器设备还包括光探测器，所述光探测器用于读取由闪烁体响应于入射的初级辐射生成的转换后的初级辐射，其中，还提供光探测器用于读取来自闪烁体的空间次级增益分布图像。

根据本发明的另一实施例，提出了一种方法，所述方法包括如下步骤：在参考闪烁体状态下利用次级辐射来照射闪烁体，以生成次级增益分布的参考图像。这里，参考闪烁体状态可能为均匀增益分布的状态。另外，参考闪烁体状态可以为满足某一条件的增益分布状态，例如，其增益对比低于预定水平。此后，在实际闪烁体状态下利用次级辐射来照射闪烁体，以生成次级增益分布的实际图像。接着，根据参考空间次级增益分布图像以及实际空间次级增益分布图像生成空间次级增益分布的真正的实际图像。该实施例所具有的优势为通过利用参考空间次级增益分布图像和实际空间次级增益分布图像的两级校准将去除非均匀次级辐射的影响。