[发明专利]低功耗扫描测试技术及装置

权利要求书

1.一种集成电路，其包括：

一第一测试激励源，其被配置以生成原始测试矢量值；

一第二测试激励源，其被配置以生成一常量值；

一控制器，其被配置以生成控制信号；和

一测试激励选择器，其含有连接到第一测试激励源、第二测试激励源和 控制器的输入，其进一步含有连接到集成电路中一组扫描链的输出，其被配 置以根据控制器的控制信号，在其每个相应的输出中选择性地输出第一测试 激励源的原始测试矢量值或第二测试激励源的常量值。

2.如权利要求1所述的集成电路，其中该测试激励选择器被配置以逐一 周期方式、逐一扫描链段方式、或逐一矢量方式选择性地输出值。

3.如权利要求1所述的集成电路，其中该第一测试激励源是一解压器， 其被配置以接收来自一外部测试仪的压缩的测试矢量值。

4.如权利要求1所述的集成电路，其中该测试激励选择器包括一组多路 复用器，每个多路复用器含有连接到第一测试激励源的各自输出的第一输入， 连接到第二测试激励源的各自输出的第二输入，连接到控制器的各自输出的 第三输入，以及连接到各自的一个或多个扫描链上的输出。

5.如权利要求1所述的集成电路，其中该控制器是一可编程控制器，其 被配置以加载控制数据，该控制数据来自一外部测试仪、该集成电路上的一 存储器或该集成电路上的一测试生成器中三者之一。

6.如权利要求1所述的集成电路，其中该常量值是第一常量值，其中该 集成电路进一步包括一第三测试激励源，被配置以生成一第二常量值，其中 该测试激励选择器进一步含有连接到第三测试激励源的输入，其中该测试激 励选择器被配置以根据控制器的控制信号，在其每个各自的输出中选择性地 输出第一测试激励源的原始测试矢量值、第二测试激励源的第一常量值、或 第三测试激励源的第二常量值。

7.如权利要求6所述的集成电路，其中该第一常量值和第二常量值各自 是0和1，或各自是1和0。

8.如权利要求6所述的集成电路，其中该测试激励选择器包括一组多路 复用器，每个多路复用器含有连接到第一测试激励源的各自输出的第一输入， 连接到第二测试激励源的各自输出的第二输入，连接到第三测试激励源的各 自输出的第三输入，连接到控制器的各自输出的第四输入，以及连接到各自 的一个或多个扫描链上的输出。

9.如权利要求1所述的集成电路，其中该控制器包括加载和输出控制数 据的一个或多个移位寄存器。

10.如权利要求9所述的集成电路，其中该一个或多个移位寄存器包括 构成多级寄存器管道的一组移位寄存器。

11.如权利要求10所述的集成电路，其中该一组移位寄存器被配置为响 应一寄存器移位时钟而串行加载数据。

12.如权利要求10所述的集成电路，其中该一组移位寄存器被配置为响 应一管道移位时钟而并行地从移位寄存器中的一个移入控制数据到移位寄存 器中的另一个。

13.如权利要求9所述的集成电路，其进一步包括连接到该一个或多个 移位寄存器的一个或多个映像寄存器。

14.如权利要求9所述的集成电路，其中该控制器进一步包括连接到该 一个或多个移位寄存器中至少之一的一异或XOR或同或XNOR网络。

15.如权利要求14所述的集成电路，其中该控制器进一步包括连接到该 异或或同或网络的一偏置电路。

16.如权利要求15所述的集成电路，其中该偏置电路被配置以偏置该异 或或同或网络的一个或多个输出，以便每个被偏置的输出更有可能产生各自 的二进制值。

17.如权利要求15所述的集成电路，其中该偏置电路是一可重新配置的 偏置电路，其被配置以一可选择的数量偏置该异或或同或网络的一个或多个 输出。