[发明专利]放射线检测装置和放射线检测系统有效

专利信息
申请号: 200880011911.7 申请日: 2008-04-09
公开(公告)号: CN101657737A 公开(公告)日: 2010-02-24
发明(设计)人: 井上正人;冈田聪;竹田慎市;长野和美;野村庆一;泽田觉 申请(专利权)人: 佳能株式会社
主分类号: G01T1/20 分类号: G01T1/20;G01T1/29
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 杨国权
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 放射线 检测 装置 系统
【说明书】:

技术领域

本发明涉及一种放射线检测装置以及一种放射线检测系统,具体 地说,涉及一种用于放射线照相术等的放射线检测装置和放射线检测 系统。

背景技术

传统上,在放射线照相中通常使用包括放射线膜的放射线检测装 置,该放射线膜具有带有用于将X射线转换为光的闪烁层的光敏层和 放射线增强屏。

然而,近来已经开发出一种数字放射线检测装置,其具有带有闪 烁层的闪烁器以及具有光电转换元件的二维光电检测器。在数字放射 线检测装置中,由于所获得的数据是数字数据,因此容易执行图像处 理。相应地,通过将这种数字放射线检测装置合并到连网的计算机系 统中,数据可以共享。此外,存在以下另一优点:将图像数字数据存 储到磁光盘等中可以比胶片存储更显著地减少存储空间,因此有助于 检索过去的图像。此外,随着数字放射线检测装置的开发不断发展, 已经提出了具有高灵敏度和高锐度特性的这种数字放射线检测装置, 其已经使得能够减少患者的放射线曝光剂量。

作为数字放射线检测装置的传统示例,在美国专利No.5856699 中描述了一种配置示例。美国专利No.5856699描述了用于将X射线 转换为可见光的闪烁层(波长转换构件)被布置在具有以二维方式布 置的多个光电转换元件的半导体元件衬底的X射线入射侧,并且在半 导体元件衬底的X射线入射侧的相对侧的表面通过粘接剂而固定在基 底上。

此外,日本专利申请特开No.2005-214808描述了这样的示例: 由具有高发光效率的掺杂Tl的CsI制成的多个柱状晶体制成的闪烁层 被布置在光电转换元件衬底的X射线入射侧的表面,并且以粘接剂将 光电转换元件衬底的背面固定在安装衬底上。此外,闪烁层受防潮保 护膜所覆盖。

发明内容

然而,上述传统技术产生以下问题:保护膜、闪烁层、光电转换 元件衬底以及用于接合基底的粘接剂具有彼此不同的热膨胀系数,从 而在每一部分因周围环境温度和装置内侧的热量产生而生成应力。此 外,应力之间的差异生成导致凸出方向或凹入方向上的变形的力。具 体地说,在装置的使用环境下,用于形成各个构件的制造工艺之间的 大温度差已经生成应力。在传统示例中,存在的应力由另一构件强制 地矫正,并且总是施加试图返回没有矫正的形变状况的力。

相应地,易于出现具有低粘接力的光电转换元件衬底与闪烁层的 连接表面之间的剥离以及闪烁层内的断裂。具体地说,很有可能在施 加了大应力的角部分处发生剥离或断裂。

如果出现闪烁层的剥离或断裂,则在闪烁层的内所生成的光并不 准确地传送,并且出现光强度改变或光散射,因此降低了光强度和分 辨率。

鉴于上述问题,本发明的一个目的在于提供一种放射线检测装 置,其能够减少因构件之间的热膨胀系数的差异而导致的阵列衬底与 闪烁层之间的剥离。

根据本发明第一方面,一种放射线检测装置包括层压叠层结构, 其中,支撑物质、第一粘接层、具有光电转换元件的阵列衬底、用于 将放射线转换为光的闪烁层、第一树脂层以此顺序而堆叠,其中,在 每一层的平面方向上的布置区域中,

所述闪烁层的布置区域比所述光电转换元件的布置区域宽,

所述第一粘接层的布置区域与所述光电转换元件的布置区域相 同或比它宽,并且具有比所述闪烁层的布置区域窄的部分,以及

所述阵列衬底的布置区域比所述闪烁层的布置区域宽。

此外,本发明提供一种放射线检测系统,其特征在于,至少包括: 上述放射线检测装置;以及信号处理单元,用于处理来自所述放射线 检测装置的信号。

本发明可以减少放射线检测装置的闪烁层的剥离,并且可以防止 光强度降级以及分辨率降级。

从结合附图进行的以下描述,本发明的其它特征和优点将是清楚 的,在附图中,相似的标号在整个附图中表示相同或相似的部分。

附图说明

被合并到说明书中并且构成说明书的一部分的附图示出了本发 明的实施例,并且连同描述一起用于解释本发明的原理。

图1是根据本发明的放射线检测装置的简化截面图。

图2是根据本发明的片状缓冲物质的简化截面图。

图3是根据本发明的用于描述各个构件之间的位置关系的放射线 检测装置的简化截面图。

图4是当施加应力时根据本发明的放射线检测装置的简化截面 图。

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