[发明专利]探测器和离子源有效
申请号: | 200880012057.6 | 申请日: | 2008-04-01 |
公开(公告)号: | CN101663726A | 公开(公告)日: | 2010-03-03 |
发明(设计)人: | A·克拉克;S·J·泰勒;R·B·特纳;W·A·芒罗 | 申请(专利权)人: | 史密斯探测-沃特福特有限公司 |
主分类号: | H01J49/10 | 分类号: | H01J49/10;H01J49/16;H01J49/00 |
代理公司: | 北京润平知识产权代理有限公司 | 代理人: | 周建秋;王凤桐 |
地址: | 英国赫*** | 国省代码: | 英国;GB |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 探测器 离子源 | ||
1.一种离子源组件(4),该组件包括物流路径,该物流路径具有沿着 其长度的混合区域(42),其特征在于,所述源包括正离子和负离子的第一 源和第二源(43,44),所述第一源和第二源分别通向所述混合区域(42) 以产生包含正离子和负离子的等离子体,从而使得分析物暴露于所述等离子 体,其中所述分析物在离子源(43,44)下游的位置被引入到所述物流路径。
2.根据权利要求1所述的组件,其特征在于,所述第一源和所述第二 源(43,44)被设置以使得在所述等离子体上的全部电荷是中性的。
3.根据权利要求1或2所述的组件,其特征在于,所述离子源(43, 44)包括电晕点电离源(46,52)。
4.根据权利要求1所述的组件,其特征在于,该组件包括在离子源(43, 44)的上游位置通向所述物流路径的清洁干空气源(41)。
5.根据权利要求1所述的组件,其特征在于,所述第一源和所述第二 源(43,44)在沿着所述物流路径的长度的相同距离处通向所述物流路径。
6.根据权利要求1所述的组件,其特征在于,所述第一源和所述第二 源(43,44)包括用于驱使离子从所述源进入所述物流路径的装置(48,49, 53,54)。
7.根据权利要求6所述的组件,其特征在于,用于驱使离子的装置包 括用于建立电场的装置(48,49,53,54)。
8.根据权利要求6或7所述的组件,其特征在于,用于驱使离子的装 置包括气体供应器。
9.根据权利要求8所述的组件,其特征在于,所述气体供应器包括用 于增强离子形成或调整所形成的离子物质的化学物质。
10.根据权利要求1所述的组件,其特征在于,所述混合区域(42)通 向反应区域(63),所述反应区域(63)被设置成降低所述反应区域内的物 流的速度。
11.根据权利要求10所述的组件,其特征在于,所述反应区域(63) 的横截面面积被扩大以降低穿过所述反应区域的物流的速度。
12.一种探测器设备,该探测器设备包括根据权利要求1所述的组件以 及被设置成从所述组件(4)接收分析物离子的探测器(1)。
13.根据权利要求12所述的探测器设备,其特征在于,所述探测器是 光谱仪(1)。
14.根据权利要求13所述的探测器设备,其特征在于,所述光谱仪是 离子迁移率光谱仪(1)。
15.根据权利要求12或13所述的探测器设备,其特征在于,所述探测 器是场非对称离子迁移率光谱仪(1)。
16.根据权利要求12所述的探测器设备,其特征在于,所述探测器(1) 的输出被用于控制来自所述组件(4)的离子流。
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