[发明专利]用于控制与用于呈现各种类型的光电子信息的装置的操作有关的多个参数的通用测试系统

说明书

技术领域

本发明涉及能够控制与用于呈现各种类型的光电子信息的显示装置的操作有关的多个参数的通用测试系统。其适用于例如具有阴极管(CRT)、具有液晶(LCD)、或乃至具有等离子体的屏幕显示器和诸如平视显示器(HUD)、投映在风挡玻璃上的显示系统、或乃至头盔显示器(HMD)等其中将图像投映至无穷远的装置。

更特别地，本发明的目的是借助于单传感器来允许表征这些信息呈现装置，所述单传感器易于使用且允许在自动模式下、即特别地但以非限制性方式执行此表征所需的全部测量和测试：

-比色测试(在一点中及在显示器的整个区域中)

-颜色均匀度测试(颜色的直方图......)

-亮度测量，其还可以在显示器的整个区域中执行，还可以在区域的所有点中执行均匀度测试，

-故障像素的检测(一个或多个像素，簇......)，

-几何测量(痕迹宽度、视差、畸变......)，

-图像中的元素图案的重叠的检测......

背景技术

在本领域中公知的是特定的测试装置与用于呈现信息的每种类型的设备相关，如果必须获取涉及不同类型的显示器或观看装置的设备，则这一点尤其“昂贵”。

此外，这种额外设备产生特别地用于测试装置维护和报废管理的附加成本。此外，这些测试装置常常涉及多个传感器，每个被分配给执行的一种测量。

这样，对于亮度测量，所使用的传感器将是亮度计；色度测量将涉及色度计；对于准确的测量，将使用小区域高分辨率传感器；对于标准的几何测量，所使用的传感器将是大区域中等分辨率传感器；通常在手动模式下执行某些测量，诸如与故障像素的检测或元素图案的分析有关的那些测量。

在专利US 6,064,462中所描述的检查装置中再次发现这些缺陷，该专利利用在液晶显示面板的表面处形成的牛顿环与包含液晶的两个玻璃板之间的间距之间的相关性，以便检查所述间距的均匀度：在不使用液晶显示器的观看装置中不能考虑这种原理。

而且，日本专利JP 31 603 10使用一种应用多个照相装置的组件，所述照相装置旨在获取在信息呈现装置的阴极屏幕上显示的测试图案的照片。此组件是特别为特定类型的阴极屏幕而设计的，且例如不适用于诸如平视显示器或头盔显示器等其它显示器类型。

与之相关的文献WO 02/39 753描述了一种用于测试液晶显示装置的装置，其使用横向地照亮显示器的光源装置以及旨在经由偏振器和滤波器来接收被显示器反射的一部分光的照相装置。处理器分析由照相装置接收到的图像以便检查一定数目的标准。因此，这种装置专用于液晶显示器且不适合于其它类型的显示器。

发明内容

更特别地，因此，本发明的目的是通过使用单传感器来抑制这些缺点，用所述单传感器，可以对市场上的大部分显示装置或显示器自动地或半自动地执行全部测量和常见测试，以便：

-使在使用不同类型的显示器或观看装置的公司中使用的测试装置均质化，

-使测试程序和获得的结果一致(因为使用单传感器)，

-通过使用用于单一获取的装置来降低投资成本和维护成本，

-通过用自动测量代替手动测量来降低获得的结果的主观性，

-能够存储与测试有关的信息以便特别地将其与在稍后执行的测试期间获得的信息相比较。

为此，提出了一种测试系统，该系统包括作为通用单传感器的传统类型的数字照相装置，该数字照相装置可以从包括处理器和诸如键盘/屏幕组等人机接口的计算机系统进行远程控制，此照相装置包括可选地具有可变焦距的物镜，该物镜的聚焦可以通过遥测装置来自动地执行(例如“自动聚焦”型，所述处理器本身经由远距离传输装置耦合到要测试的呈现装置，所述远距离传输装置是为了使照相装置与期望进行其测试的呈现装置相对地定位而提供的，优选地与后者同轴)。

然后对处理器编程以便执行包括以下操作阶段的序列：

-自动定位阶段，其包括处理器对呈现装置显示和定位标记的投映进行的控制、对照相装置获得的图像的分析和处理器根据所述分析的结果对定位装置的控制，

-光学校准阶段，以便例如通过调整物镜的焦距来促使由呈现装置生成的图像占据由静止照相机拍摄的数字照片的预定区域(例如整个照片)，

-用于自动地使物镜聚焦以便获得清晰图像的阶段，