[发明专利]显示装置、显示控制方法以及电子设备有效

专利信息
申请号: 200880014523.4 申请日: 2008-10-27
公开(公告)号: CN101675466A 公开(公告)日: 2010-03-17
发明(设计)人: 中西贵之;仲岛义晴 申请(专利权)人: 索尼株式会社
主分类号: G09G3/36 分类号: G09G3/36;G02F1/133;G09F9/00;G09G3/20;G09G3/34
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 代理人: 吴孟秋;梁 韬
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 显示装置 显示 控制 方法 以及 电子设备
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种显示预定视频的显示装置、用于控制该显示装 置的显示控制方法以及采用该显示装置的电子设备。

背景技术

传统上,作为用于液晶显示装置的调光控制(dimming control) 的光电传感器,使用了以下的光电传感器。具体地,在采用非晶硅 TFT的液晶显示装置中,如图21所示,恒电流电路被连接至传感 器输出端,并且通过将电流转换成电压来检测光电流。

此外,在低温多晶硅(在下文中,称作“LTPS”)的情况下, 可以在基板上形成电路,因此,也可以是如图22和图23所示的将 比较器连接至传感器输出端的电路构成。该电路构成允许更小的电 路面积,因此,光电传感器可以被设置在像素的周边(外围)。

发明内容

然而,将光电传感器应用于采用LTPS的显示装置涉及以下问 题。

问题(a)…光电传感器(晶体管)的泄漏量(暗电流)大于单 晶硅的泄漏量。

问题(b)…光电传感器的光泄漏量(光电流)很小。

问题(c)…在相同的液晶显示装置(面板)中,诸如光电传感 器和比较器的元件的性能的变化(个体差异)。

问题(d)…光电传感器的暗电流随着温度而改变。

除非这些因素被解决,否则很难制造在采用LTPS的液晶显示 装置中具有高精度的光电传感器。

为了解决这样的问题,作出了本发明。具体地,本发明是一种 显示装置,包括:第一检测元件,检测外部光的光量;第二检测元 件,检测当光被遮挡时产生的暗电流;选择装置,用于选择第一检 测元件和第二检测元件中的任一个;比较器,比较通过选择装置所 选择的第一检测元件或第二检测元件的输出与预定的参考值;以及 控制装置,用于计算当通过选择装置选择第一检测元件时通过比较 器获得的第一比较结果与当选择第二检测元件时通过比较器获得 的第二比较结果之间的差值,并且依赖于计算结果来控制被供给至 显示区的光量。

在该本发明中,通过一个比较器来执行用于检测外部光的光量 的第一检测元件的输出与预定参考值之间的比较以及用于检测当 光被遮挡时产生的暗电流的第二检测元件的输出与预定参考值之 间的比较。这允许消除比较器的性能变化的影响。

在本发明中,通过一个比较器来获得两个比较结果。通过选择 装置对第一检测元件或第二检测元件进行选择,可以以时间分割的 方式获得这两个比较结果。

此外,通过在当通过比较器来比较第一检测元件的输出时所使 用的预定参考值与当通过比较器来比较第二检测元件的输出时所 使用的预定参考值之间进行切换,可以抑制由于这两个检测元件之 间的性能的变化所引起的计算结果的误差。

另外,通过在当通过选择装置选择第一检测元件时与当选择第 二检测元件时之间切换被共同连接至两个检测装置的附加电容,可 以调节在外部光的光量的检测以及暗电流的检测中的两个检测元 件的检测时间。

本发明中的检测元件为一种能够依赖于光接收量来输出电流 的元件。其实例包括具有二极管构造的元件以及具有晶体管构造的 元件。

此外,本发明为一种显示装置的显示控制方法,所述显示装置 包括:第一检测元件,检测外部光的光量;以及第二检测元件,检 测当光被遮挡时生成的暗电流。所述方法包括以下步骤:通过第二 检测元件来检测当光被遮挡时产生的暗电流,并通过与预定参考值 的比较来计算当光被遮挡时所获得的比较值;通过第一检测元件来 检测依赖于环境光量(ambient light amount)的电流,并且通过与 预定参考值的比较来计算当光被接收时所获得的比较结果;以及计 算当光被接收时所获得的比较结果与当光被遮挡时所获得的比较 结果之间的差值,并依赖于计算结果来控制被供给至显示区的光 量。

在该本发明中,在通过使用一个比较器来进行用于检测外部光 的光量的第一检测元件的输出与预定参考值之间的比较以及用于 检测当光被遮挡时产生的暗电流的第二检测元件的输出与预定参 考值之间的比较的过程中,执行与第一检测元件的比较和与第二检 测元件的比较之间的切换。这允许消除比较器的性能变化的影响。

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