[发明专利]处理器性能监测无效
申请号: | 200880015791.8 | 申请日: | 2008-06-05 |
公开(公告)号: | CN101681289A | 公开(公告)日: | 2010-03-24 |
发明(设计)人: | D·A·卢克;P·L·维塔莱 | 申请(专利权)人: | 国际商业机器公司 |
主分类号: | G06F11/34 | 分类号: | G06F11/34 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 | 代理人: | 酆 迅;李峥宇 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 处理器 性能 监测 | ||
技术领域
本发明涉及计算机架构,更具体地,涉及评估处理器的性能。
背景技术
现代计算机系统通常包括多个集成电路(IC),包括可以用于 在计算机系统中处理信息的一个或多个处理器。由处理器处理的数 据可以包括由处理器执行的计算机指令,以及由处理器使用该计算 机指令来操纵的数据。计算机指令和数据通常存储在计算机系统的 主存储器中。
处理器通常通过在一系列小步骤中执行每个指令来处理指令。 在某些情况下,为了增加处理器所处理的指令数目(并由此提高处 理器的速度),可以将处理器流水线化。流水线是指在处理器中提 供独立的级,其中每一级执行运行指令所需的一个或多个小步骤。 在某些情况下,流水线(以及其他电路)可以置于处理器中称作处 理器内核的部分中。某些处理器可以具有多个处理器内核。
虽然可以通过使用流水线来提高处理器速度,但是计算机系统 的性能可能取决于各种其他因素,例如,计算机系统的存储器层级 的性能。因此,系统开发者通常会研究对存储器中的指令和数据访 问以及存储器中的指令执行,以便收集性能参数,这些性能参数可 以允许系统开发者优化系统设计从而获得更好的性能。例如,系统 开发者可以研究高速缓存未命中率,以确定最优高速缓存大小、集 合关联性等。
现代处理器通常包括性能监测电路,用以利用、测试和监测各 种性能参数。这种性能监测电路通常集中在处理器内核中,其具有 去往和来自多个其他处理器内核的大量线路,从而显著增加了芯片 大小、成本和复杂性。而且,在芯片开发和/或测试完成之后,不再 需要性能监测电路,并且可能无法重新获得由性能监测电路占用的 空间。
因此,需要用于从处理器收集性能参数的改进的方法和系统。
发明内容
本发明涉及计算机架构,并且更具体地,涉及评估处理器性能。
本发明的一个实施方式提供一种用于收集性能数据的方法。该 方法通常包括:由位于处理器的L2高速缓存套组(nest)中的性能 监测器来监测L2高速缓存访问,以获取与L2高速缓存访问有关的 性能数据。该方法还包括:通过将处理器的至少一个处理器内核耦 合至L2高速缓存套组的总线,由性能监测器从所述至少一个处理器 内核接收性能数据;以及基于至少一个L2高速缓存访问和从所述至 少一个处理器内核接收到的性能数据,来计算一个或多个性能参数。
本发明的另一实施方式提供一种位于处理器的L2高速缓存套组 中的性能监测器,其中该性能监测器配置用于:监测对L2高速缓存 套组中的L2高速缓存的访问;以及计算与L2高速缓存访问相关的 一个或多个性能参数。该性能监测器进一步配置用于:通过将L2高 速缓存套组耦合到至少一个处理器内核的总线,从所述至少一个处 理器内核接收性能数据。
本发明的又一实施方式提供一种系统,其一般地包括:至少一 个处理器内核;包括L2高速缓存和性能监测器的L2高速缓存套组; 以及将L2高速缓存套组耦合到至少一个处理器内核的总线。该性能 监测器一般地配置用于监测L2高速缓存访问,以计算与L2高速缓 存访问有关的一个或多个性能参数;以及通过将L2高速缓存套组耦 合到至少一个处理器内核的总线,从所述至少一个处理器内核接收 性能数据。
附图说明
通过使本发明的上述特征、优点和目的得以实现和详细理解的 方式,将参考本发明在附图中使出的实施方式对上文概括的本发明 进行更为具体的描述。
然而,需要注意,附图仅仅示出了本发明的典型实施方式,因 此其不应被认为是对本发明范围的限制,因为本发明可以包含其他 同样有效的实施方式。
图1示出了按照本发明实施方式的示例性系统。
图2示出了按照本发明实施方式的处理器。
图3示出了按照本发明实施方式的另一处理器。
具体实施方式
本发明涉及计算机架构,并且更具体地涉及评估处理器性能。 性能监测器可以置于处理器的L2高速缓存套组中。性能监测器可以 监测L2高速缓存访问以及通过将处理器内核耦合至L2高速缓存套 组的总线从一个或多个处理器内核接收性能数据。在一个实施方式 中,总线可以包括用于将性能数据从处理器内核传送到性能监测器 的一个或多个附加线路。
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