[发明专利]图像拍摄装置、图像拍摄方法和程序有效

专利信息
申请号: 200880016542.0 申请日: 2008-03-17
公开(公告)号: CN101688966A 公开(公告)日: 2010-03-31
发明(设计)人: 小野修司 申请(专利权)人: 富士胶片株式会社
主分类号: G02B7/28 分类号: G02B7/28;G03B7/095;H04N5/225;H04N5/232
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 陈 平
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 图像 拍摄 装置 方法 程序
【权利要求书】:

1.一种图像拍摄装置,所述图像拍摄装置包括:

光接收部,所述光接收部接收来自物体的光;

光学系统,所述光学系统使来自所述物体的所述光从中通过,以 使所述光接收部接收所述来自所述物体的光,所述光学系统包括光调 制部,所述光调制部调制来自所述物体的所述光的相位,使得在与所 述光学系统的光轴平行的方向上所述物体的物距落入预定范围内的 条件下,来自所述物体的所述光的光传递函数在安置所述光接收部的 位置保持基本上恒定;

光阑部,所述光阑部至少部分地阻挡来自所述物体的所述光被所 述光接收部接收;

光量检测部,所述光量检测部检测来自所述物体的所述光的量; 和

图像拍摄控制部,所述图像拍摄控制部在被所述光量检测部检测 的光量小于预定光量时,(i)设定所述光阑部的孔径尺寸大于预定值, 并且(ii)使所述光接收部接收来自所述物体的、至少一部分被所述光 调制部调制的光,

其中所述光调制部可相对于所述光学系统的光轴移动,并且

在被所述光量检测部检测的光量小于所述预定光量时,所述图像 拍摄控制部(i)设定所述光阑部的孔径尺寸大于所述预定值,并且(ii) 将所述光调制部移动至使所述光接收部能够接收来自所述物体的、至 少一部分已经通过所述光调制部的光的位置。

2.根据权利要求1所述的图像拍摄装置,其中

当所述光阑部的孔径尺寸大于所述预定值时,将所述光调制部定 位,使得来自所述物体的所述光通过所述光调制部。

3.根据权利要求1所述的图像拍摄装置,其中

光在通过所述光调制部的其中包括所述光轴的预定区域时被调 制的调制度,比光在通过所述光调制部的与所述预定区域不同的区域 时被调制的调制度更小。

4.根据权利要求3所述的图像拍摄装置,其中

在离所述光轴的距离长于第一距离的入射位置入射到所述光学 系统的入射光瞳上的光在通过所述光调制部时被调制的调制度,比在 从所述光轴至第一入射位置之间的入射位置入射到所述光学系统的 射光瞳上的光在通过所述光调制部时被调制的调制度更大,所述第 一入射位置离所述光轴的距离为所述第一距离。

5.根据权利要求4所述的图像拍摄装置,其中

位于所述光学系统的所述入射光瞳的入射位置与在所述入射位 置入射到所述光学系统上并且通过所述光调制部的光线的横向像差 彼此相关,使得在所述入射位置位于从所述第一入射位置至第二入射 位置之间,所述第一入射位置离所述光轴的距离为所述第一距离,并 且所述第二入射位置离所述光轴的距离为大于所述第一距离的第二 距离时,横向像差的绝对值随着从所述光轴至所述入射位置的距离的 增加而增加。

6.根据权利要求5所述的图像拍摄装置,其中

与在所述第二入射位置附近的入射位置相关联的横向像差的差 值为0。

7.根据权利要求6所述的图像拍摄装置,其中

在所述入射位置位于从所述第二入射位置至第三入射位置之间, 所述第三入射位置离所述光轴的距离为长于所述第二距离的第三距 离时,所述横向像差绝对值随着从所述光轴至所述入射位置的距离的 增加而降低。

8.根据权利要求7述的图像拍摄装置,其中

与在所述第三入射位置入射到所述光学系统上的光线相关联的 横向像差为0。

9.根据权利要求8所述的图像拍摄装置,其中

在所述入射位置位于从所述第三入射位置至第四入射位置之间, 所述第四入射位置离所述光轴的距离为长于所述第三距离的第四距 离时,所述横向像差绝对值随着从所述光轴至所述入射位置的距离的 增加而增加。

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