[发明专利]磁共振成像装置及由倾斜磁场引起的误差修正方法有效
申请号: | 200880019567.6 | 申请日: | 2008-06-03 |
公开(公告)号: | CN101711126A | 公开(公告)日: | 2010-05-19 |
发明(设计)人: | 泷泽将宏;高桥哲彦 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立医药 |
主分类号: | A61B5/055 | 分类号: | A61B5/055;G01R33/48;G01R33/54 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 朱丹 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 磁共振 成像 装置 倾斜 磁场 引起 误差 修正 方法 | ||
1.一种磁共振成像装置,具备:测量控制部,其基于非正交系采样 法的脉冲序列,控制倾斜磁场的施加和配置在K空间中的回波信号的测 量;修正处理部,其修正由所述倾斜磁场引起的误差;和运算处理部,其 对所述K空间数据进行运算处理从而重构图像;该磁共振成像装置的特征 在于,
所述测量控制部控制所述倾斜磁场的施加,以测量由在所述K空间上 互相平行配置的多个回波信号构成的块,
所述修正处理部检测所述块的回波信号组的峰值位置从所述K空间 原点的位移量,并且所述修正处理部基于该位移量,通过进行下列任一处 理从而修正由所述倾斜磁场引起的误差:使基于所述非正交系采样法的脉 冲序列而测量的、配置在所述K空间中的回波信号组位移,使得其峰值位 置与该K空间的原点一致的处理;或再次设定所述倾斜磁场的处理;或对 栅格化基于所述非正交系采样法的脉冲序列而测量的、配置在所述K空间 中的回波信号组的坐标进行修正的处理。
2.根据权利要求1所述的磁共振成像装置,其特征在于,
所述测量控制部控制所述倾斜磁场的施加,以测量与所述K空间的规 定轴形成的角度不同的多个所述块,
所述修正处理部按与所述K空间的规定轴形成的角度不同的多个所 述块中的每一个块检测所述位移量,并基于该检测出的多个位移量,修正 由所述倾斜磁场引起的误差。
3.根据权利要求2所述的磁共振成像装置,其特征在于,
所述测量控制部控制所述倾斜磁场的施加,以在所述K空间上分别测 量与第一轴方向平行的块的回波信号组、和与第二轴方向平行的块的回波 信号组。
4.根据权利要求2所述的磁共振成像装置,其特征在于,
所述修正处理部使用与所述K空间的规定轴形成的角度不同的多个所 述块中的每一个块的位移量求出与规定方向形成的角度为任意的倾斜磁 场的倾斜磁场误差量,并基于该任意角度的倾斜磁场误差量修正由该任意 角度的倾斜磁场所引起的误差。
5.根据权利要求4所述的磁共振成像装置,其特征在于,
所述修正处理部分别在与所述与所述K空间的规定轴形成的角度不 同的多个所述块中的块的回波信号组平行的方向和垂直的方向检测所述 位移量,并基于所述平行的方向和垂直的方向这两个方向的位移量,修正 由所述倾斜磁场引起的误差。
6.根据权利要求2所述的磁共振成像装置,其特征在于,
所述修正处理部在与所述K空间的规定轴形成的角度不同的多个所 述块中的第一块中,根据第一方向的位移量检测该第一方向的倾斜磁场偏 移,并根据第二方向的位移量检测该第二方向的倾斜磁场误差,
在与所述第一块正交的与所述K空间的规定轴形成的角度不同的多 个所述块中的第二块中,根据所述第一方向的位移量检测该第一方向的倾 斜磁场误差,并根据所述第二方向的位移量检测该第二方向的倾斜磁场偏 移,
从所述第一块中的所述第二方向的倾斜磁场误差减去所述第二块中 的所述第二方向的倾斜磁场偏移,从而计算出该第二方向上的该倾斜磁场 偏移以外的倾斜磁场误差,
从所述第二块中的所述第一方向的倾斜磁场误差减去所述第一块中 的所述第一方向的倾斜磁场偏移,从而计算出该第一方向上的该倾斜磁场 偏移以外的倾斜磁场误差,
基于所述第一方向和所述第二方向中的各方向的倾斜磁场偏移以及 倾斜磁场偏移以外的倾斜磁场误差,修正由所述倾斜磁场引起的误差。
7.根据权利要求1所述的磁共振成像装置,其特征在于,
所述测量控制部控制所述倾斜磁场的施加,以使关于所述K空间的轴 对称配置所述块的回波信号组。
8.根据权利要求1所述的磁共振成像装置,其特征在于,
所述测量控制部控制所述倾斜磁场的施加,以对应于事前获取的倾斜 磁场偏移,使所述块的位置向该块的相位编码方向位移。
9.根据权利要求1所述的磁共振成像装置,其特征在于
所述测量控制部使所述块的回波信号的间隔比由摄影条件决定的相 位编码步长窄。
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