[发明专利]延迟时间测量电路以及方法无效

专利信息
申请号: 200880020338.6 申请日: 2008-06-17
公开(公告)号: CN101680920A 公开(公告)日: 2010-03-24
发明(设计)人: 李芳远;郑德暎;申荣昊;李济赫;李柱旼 申请(专利权)人: 艾勒博科技股份有限公司
主分类号: G01R27/00 分类号: G01R27/00
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 代理人: 韩明星;王青芝
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要:
搜索关键词: 延迟时间 测量 电路 以及 方法
【权利要求书】:

1.一种延迟时间测量电路,包括:

延迟链单元,用于选择反馈信号或指示延迟时间测量的开始的基准信号, 以接收所述选择的信号作为输入信号,并具有串联连接的多个延迟元件以对 所述输入信号进行延迟,所述延迟链单元使所述经延迟的输入信号反相、输 出所述反相信号作为所述反馈信号、以及对所述反相信号的反馈重复次数进 行计数以输出迭代计数信号;

代码产生单元,用于对测量信号与所述输入信号以及由除最末延迟元件 之外的延迟元件所施加的多个延迟信号的每个进行比较,以测量所述测量信 号相对于所述基准信号的延迟时间,以产生代码信号;以及

解码器,用于对所述代码信号及所述迭代计数信号进行解码,以输出测 量延迟值,

其中,所述延迟链单元包括:开关,用于选择所述基准信号或所述反馈 信号并输出所述选择的信号作为所述输入信号;延迟链,具有串联连接的所 述延迟元件,且接收所述输入信号并将其延迟,以输出所述延迟信号;反相 器,用于使从所述延迟链之最末延迟元件输出之延迟信号反相,以输出所述 反馈信号;以及计数器,用于响应于所述反馈信号而输出所述迭代计数信号,

其中,所述代码产生单元包括:比较延迟信号产生器,用于在所述迭代 计数信号为偶数时,产生所述输入信号及所述延迟信号作为多个比较延迟信 号,并在所述迭代计数信号为奇数时,使所述输入信号及所述延迟信号反相, 以输出所述反相信号作为所述比较延迟信号;多个比较器,用于将所述各个 比较延迟信号与所述测量信号相比较,以产生所述代码信号;以及第一逻辑 门,用于响应于所述代码信号而输出计数器重设信号,以用于控制所述计数 器。

2.如权利要求1所述的延迟时间测量电路,其中,所述开关响应于所述 迭代计数信号而选择所述基准信号或所述反馈信号,并输出所述输入信号。

3.如权利要求1所述的延迟时间测量电路,其中,所述计数器响应于所 述计数器重设信号而被重设。

4.如权利要求1所述的延迟时间测量电路,其中,所述比较延迟信号产 生器包括:

多个异或门,用于对所述迭代计数信号的一个最低位与所述输入信号和 所述比较延迟信号的每个执行异或运算。

5.如权利要求1所述的延迟时间测量电路,其中,所述比较器是多个第 一与门,用于对所述各个比较延迟信号与所述测量信号执行与运算。

6.如权利要求1所述的延迟时间测量电路,其中,所述比较器是D触 发器,用于响应于所述比较延迟信号而锁存及输出所述测量信号,并响应于 所述开关设定信号而被重设。

7.如权利要求1所述的延迟时间测量电路,其中,所述第一逻辑门是或 门,用于对所述代码信号执行或运算。

8.如权利要求1所述的延迟时间测量电路,其中,所述解码器将所述延 迟元件的数量乘以所述迭代计数信号,并将对应于所述代码信号的值增加至 所述乘法结果,以输出所述测量延迟值。

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