[发明专利]可测试的集成电路及测试方法

权利要求书

1、一种集成电路(100)，包括：

多个电路部分(130)，所述电路部分中的每一个具有经由开关 (152；154)群(140)与全局供电轨(160)耦合的内部供电轨(170)， 所述开关(152；154)群(140)在内部供电轨(170)和全局供电轨 (160)之间并联耦合，每一个开关(152；154)群(140)包括具有 第一尺寸的第一开关(152)和具有第二尺寸的第二开关(154)，无缺 陷的第一开关(512)的电阻高于无缺陷的第二开关(154)；以及

测试布置，用于在所述集成电路(100)的测试模式中测试各个 开关(152；154)群(140)，所述测试布置包括：

测试控制输入；

耦合到各个内部供电轨(170)的测试输出；

耦合到所述测试控制输入的控制装置(110、114、116)，用于在 测试模式下开启所选开关(152；154)群(140)，所述控制装置包括 第一选择装置(114)，用于在测试模式下选择性地开启所选群(140) 的所述第一开关(152)，以及第二选择装置(116)，用于在测试模式 下选择性地开启所选群(140)的第二开关(154)。

2、根据权利要求1所述的集成电路(100)，其中：

所述控制装置包括移位寄存器(110)，用于从所述测试控制输入 接收测试配置数据；

所述第一选择装置包括第一复用器(114)，用于在测试模式下将 所述第一开关(152)与所述移位寄存器(110)耦合；以及

所述第二选择装置包括第二复用器(120)，用于在测试模式下将 所述第二开关(154)与所述移位寄存器(110)耦合，所述控制装置 还包括测试控制块(120)，用于控制所述第一和第二复用器(114；116)。

3、根据权利要求1或2所述的集成电路(100)，还包括耦合在 各个内部供电轨(170)和所述测试输出之间的模数转换器(230)。

4、根据权利要求1-3中任一项所述的集成电路(100)，其中：

每一开关(152；154)群(140)包括多个域(150)，每一个域 (150)包括至少一个所述第一开关(152)和至少一个所述第二开关 (154)；

将各个域(150)的第一开关(152)的控制端与第一使能线(153) 耦合，所述第一使能线(153)包括延迟元件(156)，用于延迟第一使 能信号从上游域(150)到下游域(150)的传播；以及

将各个域(150)的第二开关(154)的控制端与第二使能线(155) 耦合，所述第二使能线(155)包括延迟元件(156)，用于延迟第二使 能信号从上游域(150)到下游域(150)的传播。

5、一种测试集成电路(100)的方法，所述集成电路(100)包 括多个电路部分(130)，所述电路部分(130)中的每一个具有经由开 关(152；154)群(140)与全局供电轨(160)耦合的内部供电轨(170)， 每一个开关(152；154)群(140)包括具有第一尺寸的第一开关(152) 和具有第二尺寸的第二开关(154)，无缺陷的第一开关(512)的电阻 高于无缺陷的第二开关(154)，并且测试输出与各个内部供电轨(170) 耦合，所述方法包括：

a)使所述集成电路(100)进入(310)测试模式；

b)选择(330)开关(152；154)群(140)；

c)开启(340)所选群(140)的第一开关(152)；

d)向所述全局供电轨(160)提供(320)固定电流；

e)在所述测试输出处测量(350)第一电压；

f)开启(360)所选群(140)的第二开关(154)；以及

g)在所述测试输出处测量(370)第二电压。

6、根据权利要求5所述的方法，其中，在所述开启所选群的第 一开关的步骤之前，在所述测试输出处测量(325)初始电压。