[发明专利]修复平板显示器的方法

说明书

技术领域

本发明涉及修复显示器装置的亮点像素(bright pixel)瑕疵的方法，且更具体地涉及这样一种修复显示器装置的亮点像素瑕疵的方法，该方法能够选择性地使用一波长范围的激光——该波长范围的激光关于具有亮点像素瑕疵的滤色器具有高吸收光谱，从而有效地修复该滤色器的亮点像素瑕疵。

背景技术

近些年，液晶显示器作为具有低功耗和高便携性、技术密集和高附加值的下一代高技术显示器装置已成为众所瞩目的中心。其中，一种有源矩阵型液晶显示器——其包括用于开关针对每个像素所施加的电压的开关装置——因其高分辨率和优质的动态画面(motionpicture)实现而最为引人瞩目。

参见图1，液晶面板500被构造为这样的结构，在该结构中，为上衬底的滤色器衬底530和为下衬底的薄膜晶体管(TFT)阵列衬底510彼此接合并且彼此相对，且一个液晶层520被布置在这些衬底之间。液晶面板500被以这样的方式驱动，其中，通过用于像素选择的地址线(address wire)，开关连接到几十万个像素的TFT，以施加电压到相应的像素。这里，滤色器衬底530包括玻璃531，红/绿/蓝(RGB)滤色器532，形成于滤色器532之间的黑色基质533，外覆层，用于公共电极的氧化铟锡(ITO)膜535，以及配向膜(alignment film)536。在玻璃的顶部附接有起偏振片(polarizing plate)537。

执行薄膜晶体管阵列衬底工艺、滤色器衬底工艺以及液晶晶元(cell)工艺，以制造这样的液晶板。

薄膜晶体管阵列衬底工艺是一种重复执行沉积、光刻法(photolithography)和蚀刻以在玻璃衬底上形成栅线(gate wire)、数据线(data wire)、薄膜晶体管和像素电极的工艺。

滤色器衬底工艺是用于制造以预定序列布置在具有黑色基质的玻璃上的RGB滤色器以实现颜色并且形成用于公共电极的ITO膜的工艺。

液晶晶元工艺是这样一种工艺：用于接合薄膜晶体管阵列衬底和滤色器衬底使得在薄膜晶体管阵列衬底和滤色器衬底之间保持预定间隙，并且将液晶注入薄膜晶体管阵列衬底和滤色器衬底之间的所述间隙以形成液晶层。替代地，近些年已经使用滴注(one drop filling)(ODF)工艺以均匀地将液晶施用到薄膜晶体管阵列衬底，然后将该薄膜晶体管阵列衬底与滤色器衬底接合。

在检查这样的液晶显示器时，在液晶面板的屏幕上显示测试图案，以检测是否存在瑕疵像素。当瑕疵像素被发现时，执行用于修复瑕疵像素的工艺。液晶瑕疵可包括点瑕疵、线瑕疵和显示不均匀。点瑕疵可由于不良TFT器件、不良像素电极或不良滤色器线路而出现。线瑕疵可由于在线路之间的开路、线路之间的短路、静电所导致的TFT击穿或与驱动电路的不良连接而出现。显示不均匀可由于不均匀的晶元厚度、不一致的液晶配向、特定地方的TFT分布或相对较大的线路时间常数而出现。

其中，点瑕疵和线瑕疵通常由于不良线路而出现。在常规技术中，当发现开路线路时，只是将开路线路彼此连接，当发现短路线路时，只是将短路线路彼此分开。

除上述瑕疵之外，在液晶面板制造期间，包括灰尘、有机物、金属等等的杂质可被吸附到液晶面板。当这样的杂质被吸附到靠近某些滤色器的区域时，相应于这些滤色器的像素会发射出比其余正常像素的亮度明亮得多的光，这称为漏光现象。现在正在研究使用激光修复这样的亮点像素瑕疵的方法。

日本专利申请公布No.2006-72229公开了这样一种技术：将激光照射到配向膜使得该配向膜被损坏，以削弱液晶的排列特性(arrangement property)并因而降低液晶的透光率，从而消除漏光现象。然而，此技术的问题在于，不能彻底消除液晶的排列特性，且需要大量时间来完成此工艺。

为了解决上述问题，以本申请的申请人的名义提交了韩国专利申请No.10-2006-86569。此专利申请公开了一种使用飞秒(femtosecond)激光使瑕疵像素变暗的方法。

当使用飞秒激光时，可有效地使瑕疵像素变暗；然而，存在的问题是，用于振荡飞秒激光的设备非常昂贵。

发明内容

技术问题

因此，鉴于上述问题作出了本发明，本发明的一个目的是提供一种修复显示器装置的亮点像素瑕疵的方法，该方法能够使用一波长范围的激光非常有效地修复亮点像素瑕疵，该波长范围的激光关于相应像素具有高吸收光谱。

技术方案