[发明专利]斩波型比较器以及A/D变换器

说明书

技术领域

本发明涉及在A/D变换器等中使用的斩波型比较器、以及具备斩波型比较器的A/D变换器。

背景技术

将模拟值变换为数字值的A/D转换器，在测量、控制、通信等各种领域中得到广泛应用，但随着近年的A/D转换器的位数增加等电路的高精度化，要求准确变换与基准电压的差微小的模拟电压。作为决定所述A/D转换器的精度的主要结构要素，列举出进行输入电压与基准电压的比较判定的比较器，在A/D转换器中使用的比较器中，例如有电路结构比较简单的斩波型比较器。

在作为A/D转换器的主要结构要素的斩波型比较器中当然也要求提高比较判定精度，作为使斩波型比较器的比较判定精度恶化的主要因素，例如有由构成斩波型比较器的反相器(inverter)中的MOSFET的寄生电容等引起产生的偏置(offset)误差等，作为减小所述误差的方法，提出了在斩波型比较器中设置特别的偏置补偿电路，减小偏置误差的方法等(例如参照专利文献1)。

专利文献1：特开平05-235767号公报

发明内容

但是，目前虽然提出了使构成A/D转换器的斩波型比较器的比较判定精度提高的方法，但有时无法确保足够的比较判定精度。

鉴于上述问题而提出本发明，其目的在于提供减小由伴随消耗电流变化的电源电压的变化引起产生的误差，使比较判定精度提高的斩波型比较器、以及具备所述斩波型比较器的A/D变换器。

为了达成上述目的，第1发明是一种斩波型比较器(100)，具备：供给第一电源的第一电源供给线(40)；供给电压比所述第一电源低的第二电源的第二电源供给线(50)；输入基准电压的基准电压输入部(Vref)；输入比较对象电压的比较对象电压输入部(Vin0)；比较从所述基准电压输入部(Vref)输入的所述基准电压和从所述比较对象电压输入部(Vin0)输入的所述比较对象电压的大小的比较部(110)；以及输出所述比较部(110)的比较结果的输出部(Vout1)，该斩波型比较器(100)的特征在于，该斩波型比较器具备：设定所述第一电源供给线(40)和/或所述第二电源供给线(50)的电阻值的电阻值设定部(30)。

第2发明的特征在于，在第1发明所涉及的斩波型比较器(100)中，所述比较部(110)具备阈值电压为预定值的反转式比较放大器(20-1)，所述电阻值设定部(30)的电阻值被设定为如下电阻值：减小所述反转式比较放大器(20-1)的所述阈值电压的变化的电阻值。

第3发明的特征在于，在第2发明所涉及的斩波型比较器(100)中，根据流过所述反转式比较放大器(20-1)的电流值的变化，来设定减小所述反转式比较放大器(20-1)的所述阈值电压的变化的电阻值。

第4发明的特征在于，在第1发明所涉及的斩波型比较器(100)中，所述电阻值设定部(30)的电阻值包含通过布线而形成的电阻的电阻值。

第5发明的特征在于，在第1发明所涉及的斩波型比较器(100)中，所述电阻值设定部(30)的电阻值包含由焊线形成的电阻的电阻值。

第6发明的特征在于，在第1发明所涉及的斩波型比较器(100)中，所述电阻值设定部(30)的电阻值包含由通孔形成的电阻的电阻值。

第7发明是一种A/D变换器，其特征在于具备权利要求1所述的斩波型比较器(100)。

此外，上述括号内的参考符号是为了容易理解而添加的，仅是一个例子，并不限定于图示的形态。

根据本发明，可以提供减小由伴随消耗电流变化的电源电压的变化引起产生的误差、并使比较判定精度提高的斩波型比较器、以及具备所述斩波型比较器的A/D变换器。

附图说明

图1是表示本发明的实施例1的斩波型比较器100的电路结构例的图。

图2是表示构成本发明的实施例1的斩波型比较器100的反转式比较放大器20-1的内部电路结构例的图。

图3是表示构成本发明的实施例1的斩波型比较器100的反转式比较放大器20-1的输入输出特性的例子的图。

图4是表示本发明的实施例1的斩波型比较器200的电路结构例的图。

图5是表示构成本发明的实施例1的斩波型比较器200的反转式比较放大器20-1的输入输出特性的例子的图。

图6是表示电源电压Vdd以及Vss与阈值电压Vth存在比例关系的图。

图7是表示电源电压Vdd和阈值电压的变化ΔVth(Vdd)的关系、电源电压Vss和阈值电压的变化ΔVth(Vss)的关系的图。

图8是表示本发明的实施例2的斩波型比较器300的电路结构例的图。