[发明专利]特征属性计算装置、特征量提取装置、图形核对装置、方法以及程序无效
申请号: | 200880021911.5 | 申请日: | 2008-06-25 |
公开(公告)号: | CN101689302A | 公开(公告)日: | 2010-03-31 |
发明(设计)人: | 黄雷 | 申请(专利权)人: | 日本电气株式会社 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/60;A61B5/117 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 汪惠民 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 特征 属性 计算 装置 提取 图形 核对 方法 以及 程序 | ||
技术领域
【0001】
(对于相关申请的记载)
本申请声明的优先权是之前的日本专利申请2007-169016号(2007年6月27日申请)的优先权,并将所述的申请的全部内容重复引用于本说明书。
本发明涉及一种图形的核对技术,特别涉及一种对图形特征的属性进行计算的特征属性计算装置、特征量提取装置、图形(Pattern)核对装置、方法以及程序。
背景技术
【0002】
作为这种的图形核对装置的一个例子(相关技术),例如参照专利文献1的记载。该图形核对装置是对指纹进行核对的装置,对第1指纹(专利文献1中称为“探索指纹”)图形的各图形特征(专利文献1中称为“特征点”),通过比较第2指纹(专利文献1中称为“文件指纹”)图形的各图形特征,比较各自的图形特征所具有的局部的特征数据,并通过对图形特征的对应关系(专利文献1中称为“‘成对’关系”)进行检测,核对指纹图形的同一性。
【0003】
作为上述图形特征的局部的特征数据,使用将该图形特征的位置作为中心,由该图形特征的走向(专利文献1中称为“方向”)所决定的局部坐标系中的附近图形特征的位置和走向、与附近图形特征之间的交叉隆起线数目。
【0004】
专利文献2中公开了如下的结构,通过输入图像与参照图像的局部的流线方向的协方差的偏移,对指纹图像的质量进行检测。专利文献3中公开了如下的结构,从指纹图像数据与指面的三维位置数据得到在沿着指面的曲面形状的曲线坐标系中所表示的中间数据,从中间数据得到在假想对曲面进行了平面展开的假想平面的坐标系中所表示的核对用的数据。
[专利文献1]:特开昭56-24675号公报
[专利文献2]:特开2000-057338号公报
[专利文献3]:特开2006-172258号公报
[专利文献4]:特开昭55-138174号公报
[专利文献5]:特开平8-7079号公报
【0006】
但是,上述的图形核对装置中,存在如下的问题(下面的内容,根据本发明者的研究结果)
【0007】
第1问题点,在由手指的按压而产生图案的变形的情况下,将各图形特征作为中心的局部坐标中所表示的附近图形特征的位置与走向等的局部的特征数据中,含有由图案变形而产生的变化。
【0008】
第2问题点,是存在不能对图形特征的对应关系进行更高精度的检测的情况。也就是说,由于在上述局部的特征数据中,含有由图案变形产生的变化,为了通过对其进行比较,而检测图形特征的对应关系,不得不设定容许大的变化的阈值。但是,若设定容许大的变化的阈值,则图形特征的对应关系的检测精度变得粗糙,不能进行更高精度的检测。
【0009】
第3问题点,在基于容许上述大的变化的阈值设定所检测到的图形特征的对应关系,对指纹图形的同一性进行核对时,将难以进行与类似指纹的分离,引起识别精度的下降。
发明内容
【0010】
因此,本发明的目的是提供一种即使在图形中出现变形,也可以抑制由该变形引起的影响,并导出图形特征的属性的装置、方法以及程序。
【0011】
本发明的其他的目的,是提供一种即使在图形中出现变形,也可以抑制由该变形引起的影响,并能提取图形特征的属性的相对关系的装置。
【0012】
本发明的进一步其他的目的,提供一种即使在图形中出现变形,也可以抑制由该变形引起的影响,并对图形特征的对应关系进行检测的装置。
【0013】
本申请所公开的发明,为了解决上述问题实现了如下的结构。
【0014】
本发明的1个方面(一方面)的装置(特征属性计算装置)中,在由图形信号中的图案的流动(例如指掌纹的情况,沿着隆起线和谷底线的方向的图案的流动)方向的分布所确定的流线坐标系中求得图形特征的属性,特别地求得在图形特征的流线坐标系中的位置与姿态。
【0015】
本发明中,具备:检测单元,其输入图形信号,并对所述图形信号内的流线进行检测;设定单元,其对具有与所述检测到的流线的方向相对应的坐标轴的流线坐标系进行设定;和导出单元,其将所述流线坐标系作为基准,求出所述图形信号内的图形特征的属性(特征数据)。
【0016】
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