[发明专利]用于测试处理机的开启器及缓冲台

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试处理机，尤其涉及一种用于释放被安装到载板上的 夹持设备的夹持状态的开启器。

背景技术

测试处理机是一种允许测试机能够对由某一制造过程所制造的半导体装 置进行测试、根据该测试结果以将半导体装置加以分类，并且将半导体装置 装载至客户托盘上的设备。该测试处理机已经在众多公开文件中公开。

传统的测试处理机按照将被装载到载板上的半导体装置电连接至测试机 的方式被构造。更详细地讲，当该测试处理机收到装载有半导体装置的客户 托盘时，该测试处理机将半导体装置自该客户托盘卸载至载板上，然后将被 装载于该载板上的半导体装置电连接至该测试机，因此该测试机可对这些装 置进行测试。在此之后，该测试处理机根据测试结果将受测半导体装置加以 分类，然后再将半导体装置自该载板卸载到客户托盘上。载板的类型可归类 为测试托盘以及具有插座的测试板。该测试托盘被构造成装载有半导体装置， 该测试托盘已经被例如第10-608094号韩国专利注册号公开。具有插座的测 试板被构造成将被装载于其上的半导体装置电连接至测试机，该测试板被本 案申请人向KIPO申请的第10-2007-462654号韩国专利申请公开。

技术问题

该载板装载有半导体装置并绕某一循环路径循环。该载板含有夹持设备， 该夹持设备夹持被装载于其上的半导体装置，并且在循环过程中防止半导体 装置逸离。这种载板被第10-486412号韩国专利注册公开。

然而，该夹持设备需要开启器，藉此在当将半导体装置装载于其上或是 自该载板卸载时能够释放该夹持设备的夹持状态。

该开启器含有多个开启脚针，例如，如在第10-687676号韩国专利注册 中所公开的。开启脚针成对形成，并且按某一距离互相间隔开。该夹持设备 在当该开启器上升(或是该载板下降)时释放其夹持状态。

当待测半导体装置的实体标准(维度)改变时，即必须更换该载板(在传统 测试托盘的情况下仅需更换插器)。当更换该载板时，一对夹持半导体装置每 个的两侧的一对夹持设备之间的距离也会改变。因此，这种更换作业需改变 开启脚针之间的间距。

因而，当半导体装置在维度上有所变动时，该载板及该开启器亦必须随 之更换。在此情况下，传统技术造成更换成本增加以及资源浪费。

发明内容

技术方案

本发明可解决上述问题，并且提供关于开启器的技术，该开启器的开启 脚针可调整其间的间距，因而能够适于各式载板。

根据本发明的示范性实施例，本发明提供一种用于测试处理机的开启器， 其中包含：开启平板；多个脚针区块，所述多个脚针区块按成对方式构成， 并且可移动地结合于该开启平板，同时含有开启脚针，所述开启脚针用以释 放夹持设备的夹持状态，该夹持设备夹持载板上的半导体装置；以及至少一 个或更多个间距保持设备，所述间距保持设备用以保持构成一对的脚针区块 间的间距。

较佳地，该开启器可另含有导引杆以供导引所述多个脚针区块的移动。

较佳地，所述至少一个或更多个间距保持设备每个含有：间距固定构件， 用于固定构成一对的脚针区块间的间距；以及间距保持构件，用以保持由该 间距固定构件所固定的间距。

较佳地，该间距保持构件含有至少一个或者更多个弹性构件，以供将弹 力施加于构成一对的脚针区块中的至少一个。

较佳地，该间距保持构件与该间距固定构件整体地形成。

较佳地，该间距保持构件是与该间距固定构件整体地形成的间距保持突 起。在此，该间距保持突起被插入至在所述构成一对的脚针区块中形成的突 起接收凹槽内。

根据本发明的另一示例性实施例，用于测试处理机的开启器包含：开启 平板；多个脚针区块，可移动地结合于该开启平板，其中所述脚针区块每个 含有开启脚针，所述开启脚针用以释放夹持设备的夹持状态，该设备夹持载 板内的半导体装置；以及位置决定设备，用以决定所述脚针区块的位置，其 中该位置被任意地选定，并且所述脚针区块位于该决定位置处。

根据本发明的另一示例性实施例，缓冲台含有放置台，其上形成有至少 一个或更多个放置隔间以供接收半导体装置；以及放置区域定义钩架，可拆 解地或可移动地结合于该放置台，以供通过使用其至少一个倾斜平面来定义 该放置台的放置区域，其中，该至少一个倾斜平面是该放置区域的倾斜平面 的一部分。

有益效果