[发明专利]编程脉冲持续期的智能控制有效
申请号: | 200880100547.1 | 申请日: | 2008-06-18 |
公开(公告)号: | CN101779250A | 公开(公告)日: | 2010-07-14 |
发明(设计)人: | 方家荣;万钧 | 申请(专利权)人: | 桑迪士克公司 |
主分类号: | G11C16/34 | 分类号: | G11C16/34;G11C16/10 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 黄小临 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 编程 脉冲 续期 智能 控制 | ||
1.一种对非易失性存储进行编程的方法,包括:
将编程信号施加到非易失性存储元件,包括:将具有恒定脉冲宽度和 增大的幅度的编程脉冲施加到所述非易失性存储元件,直到达到最大幅 度;以及在所述编程脉冲达到所述最大幅度之后,在验证操作的重复之间, 将一个或多个编程脉冲施加到所述非易失性存储元件,特征在于,在验证 操作之间施加到所述非易失性存储元件的所述一个或多个编程脉冲的时 间持续期随着每个重复而增加,所述将一个或多个编程脉冲施加到所述非 易失性存储元件包括在验证操作之间施加多个脉冲。
2.根据权利要求1所述的方法,其中:
所述在验证操作的重复之间将一个或多个编程脉冲施加到所述非易失 性存储元件,包括:施加具有改变的脉冲宽度的一个或多个编程脉冲。
3.根据权利要求1所述的方法,其中:
所述在验证操作的重复之间将一个或多个编程脉冲施加到所述非易失 性存储元件,包括:施加具有增大的脉冲宽度的一个或多个编程脉冲。
4.根据权利要求1所述的方法,其中:
所述在验证操作的重复之间将一个或多个编程脉冲施加到所述非易失 性存储元件,包括:施加具有以恒定值改变的脉冲宽度的一个或多个编程脉 冲。
5.根据权利要求1所述的方法,其中:
所述在验证操作的重复之间将一个或多个编程脉冲施加到所述非易失 性存储元件,包括:施加具有以可变值改变的脉冲宽度的一个或多个编程脉 冲。
6.根据权利要求1所述的方法,其中:
所述在验证操作的重复之间将一个或多个编程脉冲施加到所述非易失 性存储元件,包括:施加具有以恒定值增大的脉冲宽度的一个或多个编程脉 冲。
7.根据权利要求1所述的方法,其中:
所述在验证操作的重复之间将一个或多个编程脉冲施加到所述非易失 性存储元件,包括:施加具有以可变值增大的脉冲宽度的一个或多个编程脉 冲。
8.根据权利要求1所述的方法,其中:
所述在验证操作的重复之间将一个或多个编程脉冲施加到所述非易失 性存储元件,包括:施加具有增大的脉冲宽度和所述最大幅度的一个或多个 编程脉冲。
9.根据权利要求1所述的方法,还包括:
存储一组可定制化脉冲宽度参数,所述在验证操作的重复之间将一个或 多个编程脉冲施加到所述非易失性存储元件,包括:施加具有基于所述存储 的可定制化脉冲宽度参数增大的脉冲宽度的一个或多个编程脉冲。
10.根据权利要求1所述的方法,其中:
所述在验证操作的重复之间将一个或多个编程脉冲施加到所述非易失 性存储元件,包括:在验证操作之间施加多个脉冲。
11.根据权利要求1所述的方法,其中:
所述在验证操作的重复之间将一个或多个编程脉冲施加到所述非易失 性存储元件,包括:在验证操作之间施加处于所述最大幅度的多个脉冲。
12.根据权利要求1所述的方法,其中,所述在验证操作的重复之间将 一个或多个编程脉冲施加到所述非易失性存储元件,包括:
将一个或多个组的不同数目的编程脉冲施加到所述非易失性存储元件, 在验证操作之间施加每个组。
13.根据权利要求1所述的方法,其中,所述在验证操作的重复之间将 一个或多个编程脉冲施加到所述非易失性存储元件,包括:
确定在当前时间段中已经执行了多少个编程-验证周期;以及
基于所述确定将多个编程脉冲施加到所述非易失性存储元件。
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