[发明专利]用于检测、标识和定位沿电子装置的放电点中发生的局部放电的方法无效
申请号: | 200880100575.3 | 申请日: | 2008-01-31 |
公开(公告)号: | CN101802628A | 公开(公告)日: | 2010-08-11 |
发明(设计)人: | G·C·蒙塔纳里;A·卡瓦里尼;G·帕希尼 | 申请(专利权)人: | 特英普科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/12 | 分类号: | G01R31/12 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 王茂华;郑菊 |
地址: | 卢森堡*** | 国省代码: | 卢森堡;LU |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 检测 标识 定位 电子 装置 放电 发生 局部 方法 | ||
1.一种用于检测、标识和定位沿电子装置的放电点中发生的局 部放电的方法,包括以下步骤:
-检测(1)由检测站中的可操作地耦合至所述电子装置的传感 器所捕获的模拟电信号,并生成表示所述模拟信号的波形的相应数 字信号;
-使用沿所述电子装置定位的同步探针为每个检测到的数字信号 分配(2)相位参数值,其表示在检测所述数字信号的时刻施加于所 述电子装置的电压相位;
-对于每个所述数字信号,推导(3)与所述数字信号的波形相 关的至少一个形状参数以及与所述数字信号的振幅相关的至少一个 振幅参数;
-将所述检测到的数字信号的集合分割(4)为子集,使得每个 子集的数字信号具有类似的形状参数值;
-根据基于独立评价的每个子集的数字信号的振幅和相位的参 数值的统计评价,标识(5)与局部放电有关的数字信号的子集并且 对其进行编录;
-在沿所述电子装置定位的多个检测站中重复先前步骤;
-对不同检测站中检测到的数字信号的子集进行相关(7),并 类似地进行编录;
-基于相关子集的群组中不同子集的数字信号的形状和振幅参 数的值,选择(8)所述群组内的子集,并且定位(9)与选定子集 中检测站处的所述数字信号有关的局部放电,
其特征在于,在选择步骤(8)中,选择如下子集,相对于相关 子集群组的其它子集而言,该子集的数字信号具有振幅参数以及与 数字信号的频率内容相关的形状参数的最大值,以及与数字信号的 持续时间相关的形状参数的最小值。
2.如权利要求1的方法,其中在推导步骤(3)中推导出的所述 形状参数是与数字信号的频率内容相关的参数。
3.如权利要求1的方法,其中推导步骤(3)包括:针对每个所 述数字信号,推导与所述数字信号的频率内容相关的第一形状参数, 以及与所述数字信号的持续时间相关的第二形状参数。
4.如权利要求3的方法,其中分割步骤(4)包括:将位于具有 所述第一和第二形状参数作为坐标的参考平面的相同区域中的数字 信号分组到相同子集中。
5.如权利要求1的方法,其中标识步骤(5)包括:使用根据该 子集的数字信号的相位和振幅参数的值来操作的模糊推导引擎。
6.如权利要求1的方法,其中,在标识步骤(5),根据将该子 集中的数字信号示为在以相位和振幅参数的值作为坐标的参考平面 中的点所定义的图案的形状来进行编录。
7.如权利要求2的方法,其中在选择步骤(8)中,选择如下子 集,相对于相关子集群组的其它子集而言,该子集的数字信号具有 振幅参数以及与数字信号的频率内容相关的形状参数的最大值。
8.如任一前述权利要求的方法,其中所述电子装置是中压电缆 或者高压电缆,并且所述检测站位于电缆的配件处。
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