[发明专利]半导体发光元件以及其制造方法有效
申请号: | 200880101844.8 | 申请日: | 2008-07-31 |
公开(公告)号: | CN101772846A | 公开(公告)日: | 2010-07-07 |
发明(设计)人: | 市原隆志;吉田裕史;山田孝夫;若井阳平 | 申请(专利权)人: | 日亚化学工业株式会社 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L21/301;H01S5/323 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 张远 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 发光 元件 及其 制造 方法 | ||
1.一种半导体发光元件的制造方法,由具有定位面的蓝宝石基板上叠 层了氮化镓类化合物半导体的晶片制造半导体发光元件,其特征在于,具 有如下的工序:
在平行所述定位面的方向Xo具有偏移角θ的蓝宝石基板的第1主面 上叠层半导体层,
在所述半导体层侧,形成第1切断槽,所述第1切断槽在垂直所述方 向Xo的方向Y上延伸,
在所述蓝宝石基板的内部,平行所述第1切断槽,并且对应偏移角θ 的倾斜度,从第1切断槽内的分割预定线向±Xo方向移动规定距离,从 而形成第2切断线,
沿着所述第1切断槽以及/或者第2切断线分割晶片。
2.根据权利要求1所述的半导体发光元件的制造方法,其特征在于,
在从配置了所述定位面在跟前的蓝宝石基板的第1主面侧的俯视观察 时,将朝向右侧的方向设为Xo,将朝向左侧的方向设为-Xo,
所述蓝宝石基板在Xo方向上存在-θ的偏移角时,使第2切断线从第 1切断槽内的分割预定线向-Xo方向移动规定距离,所述蓝宝石基板在Xo 方向上存在+θ的偏移角时,使第2切断线从第1切断槽内的分割预定线 向+Xo方向移动规定距离。
3.一种半导体发光元件的制造方法,由蓝宝石基板上叠层了氮化镓类 化合物半导体的晶片制造半导体发光元件,其特征在于,具有如下工序:
在所述蓝宝石基板的第1主面上,由蚀刻形成底面形状为多边形的凸 部,
在所述蓝宝石基板的第1主面上叠层半导体层,
在所述半导体层侧形成第1切断槽,在从所述蓝宝石基板的第1主面 侧俯视观察时,所述第1切断槽在垂直方向X的方向Y上延伸,该方向X 是从所述凸部底面的多边形的重心向1个锐角状的顶点的方向,
在所述蓝宝石基板的内部,平行所述第1切断槽,并且从该第1切断 槽内的分割预定线向-X方向移动规定距离,从而形成第2切断线,
沿着所述第1切断槽以及/或者第2切断线分割晶片。
4.根据权利要求3所述的半导体发光元件的制造方法,其特征在于,
蓝宝石基板具有定位面,第1主面以及/或者第2主面在平行该定位面 的方向Xo上具有偏移角θ。
5.根据权利要求3或者4所述的半导体发光元件的制造方法,其特征 在于,
从凸部底面的多边形的重心向1个锐角状的顶点的方向X设定为平行 蓝宝石基板的定位面。
6.根据权利要求3~5的任意一项所述的半导体发光元件的制造方法, 其特征在于,
蚀刻是湿蚀刻。
7.根据权利要求1~6的任意一项所述的半导体发光元件的制造方法, 其特征在于,
由激光的照射形成第2切断线。
8.根据权利要求1~7的任意一项所述的半导体发光元件的制造方法, 其特征在于,
激光对于蓝宝石基板是透过的光。
9.根据权利要求1~8的任意一项所述的半导体发光元件的制造方法, 其特征在于,
从蓝宝石基板侧,以第1导电型层、发光层以及第2导电型层的顺序 叠层形成半导体层,以露出第1导电型层的方式形成第1切断槽。
10.根据权利要求1~9的任意一项所述的半导体发光元件的制造方 法,其特征在于,
以露出蓝宝石基板的方式形成第1切断槽。
11.根据权利要求1~10的任意一项所述的半导体发光元件的制造方 法,其特征在于,
形成第2切断线时的蓝宝石基板的厚度设定为50~400μm。
12.根据权利要求1~11的任意一项所述的半导体发光元件的制造方 法,其特征在于,
以蓝宝石基板厚度的四分之一以上的深度形成第2切断线。
13.根据权利要求1~12的任意一项所述的半导体发光元件的制造方 法,其特征在于,
在蓝宝石基板的厚度方向上,多阶段照射激光,从而形成第2切断线。
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