[发明专利]绝对高分辨率分段或转数计数器有效

专利信息
申请号: 200880103160.1 申请日: 2008-08-07
公开(公告)号: CN101821591A 公开(公告)日: 2010-09-01
发明(设计)人: W·梅纳特;T·泰尔 申请(专利权)人: W·梅纳特;T·泰尔
主分类号: G01D5/14 分类号: G01D5/14;G01D5/245;G01P3/487
代理公司: 北京润平知识产权代理有限公司 11283 代理人: 周建秋;王凤桐
地址: 德国奥*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 绝对 高分辨率 分段 转数 计数器
【权利要求书】:

1.一种绝对高分辨率分段或转数计数器,包括以下元件:

至少一个活动励磁磁体(EM1);

韦根元件(WE),包括铁磁元件(FE),该铁磁元件(FE)被感应线圈 (SP)沿轴向环绕;

至少一个附加传感器元件(SE);

分别用于分段或旋转计数器的控制逻辑和功率控制器(SV);

至少一个具有非易失性数据存储器(ZD)的计数器单元;

这些元件用于确定针对计数器值的完整信息,并用于所述附加传感器元 件(SE)、控制逻辑和功率控制器(SV)以及非易失性数据存储器(ZD)的 内部供应;以及

用于段数或转数的细分辨率的附加传感器(ZS);和

分别用于多圈应用的μ控制器或逻辑(MC);

其特征在于,韦根元件(WE)、附加传感器元件(SE)、控制逻辑和功 率控制器(SV)、具有非易失性数据存储器(ZD)的计数器单元、附加传感 器(ZS)以及μ控制器(MC)中的元件分别被集成到目标IC,其中所述目 标IC包括IC1、IC2、IC3和IC4,所述目标IC中的每个目标IC通过在IC 级上通过一些集成步骤而包括一个或一些元件而被组合成单芯片方案,从而 由集成步骤产生的目标IC在技术和经济上是自支持方案。

2.根据权利要求1所述的绝对高分辨率分段或转数计数器,其特征在 于下列元件:附加传感器元件(SE)、控制逻辑和功率控制器(SV)以及附 加传感器(ZS)被集成到目标IC1。

3.根据权利要求1或2所述的绝对高分辨率分段或转数计数器,其特 征在于至少一个具有充电电路的能量存储装置(EL)与所述计数器联接,其 中该能量存储装置包括至少一个电容器。

4.根据权利要求3所述的绝对高分辨率分段或转数计数器,其特征在 于所述目标IC1与具有充电电路的能量存储装置(EL)元件和/或具有非易 失性数据存储器(ZD)的计数器单元被集成到目标IC2。

5.根据权利要求4所述的绝对高分辨率分段或转数计数器,其特征在 于所述目标IC2与μ控制器(MC)元件被集成到目标IC3。

6.根据权利要求5所述的绝对高分辨率分段或转数计数器,其特征在 于所述目标IC3与韦根元件(WE)被集成到终端IC4,作为单芯片方案。

7.根据权利要求1所述的绝对高分辨率分段或转数计数器,其特征在 于所述附加传感器(ZS)接管所述附加传感器元件(SE)的任务,即确定 所述励磁磁体(EM)的位置。

8.根据权利要求1所述的绝对高分辨率分段或转数计数器,其特征在 于用于估计至少励磁磁体(EM1)的极性和运动方向的完整信息,即用于计 数的完整信息,包括所述非易失性数据存储器中的数据、来自所述感应线圈 (SP)的信号的数据以及来自所述附加传感器元件(SE)的数据。

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