[发明专利]可编程诊断存储器模块

说明书

技术领域

本发明一般地涉及处理系统存储器子系统，更具体地说，涉及一种提 供可编程功能性来观察和/或改变存储器模块行为的诊断存储器模块。

背景技术

在现今的计算机系统中的存储器子系统包括提供系统存储器的多个存 储器模块。在设计及制造这些计算机系统及其组件(例如处理器刀片单元 或主板，具体地说，专用存储器控制器单元及结合了存储器控制器单元的 处理器)期间，需要评估诸如错误检测及错误校正之类的特征，以及存储 器性能的设计裕度，例如读取循环延迟及写入循环定时裕度。

但是，实际存储器件的性能基本上被设计所固定，因此测试错误检测/ 校正机制的技术在传统上受限于诸如使用“已知不良”模块的方法，或是 诸如通过禁用奇偶校验信息来强制奇偶校验错误的技术。软件长久以来已 可用于执行系统存储器测试，但是这些测试是在被设计所固定的存储器实 现上执行，或是在实验室环境中在外部来操纵。通过改变外部负载或端接 器来评估定时裕度，但这些技术相当耗时，并仅可提供实际定时裕度的概 略评估。再者，这些方法并未揭示描述存储器模块内部的行为的信息，而 仅揭示当被外部加载影响时存储器模块的行为。

可直接插入标准化存储器模块插座中的负载器件提供了存储器控制器 及系统设计评估的某种简化，其中可提供测试点，同时仍提供等效于实际 存储器件的额定负载。但是，这种测试模块基本上具有固定的信号加载值， 并仅使用无源负载及测试点来取代存储器件，其中该无源负载近似于实际 存储器模块的加载。为了改变加载，所插入的负载器件将必须被移除，而 必须插入具有不同加载特性的另一个负载器件。所提供的测试点亦未位于 存储装置的实际位置处，其不能被写入及读取，因此仅可提供外部存储器 总线信号的测量。再者，使用这种器件的测试错误检测/校正机制仍受限于 诸如外部加载测试点直到发生错误为止的技术。

因此，需要提供一种方法及装置来评估存储器控制器及存储器子系统 设计，藉以提供存储器子系统行为的灵活操纵，以及提供与在存储装置的 实际位置处的信号行为有关的信息。还需要提供与存储器模块内部的信号 行为有关的信息。

发明内容

本发明提供一种诊断存储器模块及测试方法，其中可提供存储器子系 统行为的灵活操纵，以及与所述存储装置的实际位置处的信号行为有关的 信息，其中包括存储器模块内部的信号行为。

所述诊断存储器模块包括：存储器模块接口端子，用于将所述诊断存 储器模块连接到存储器子系统，以取代正常存储器模块；以及接口，用于 在所述诊断存储器模块与外部诊断系统之间通信。

所述诊断存储器模块可包括用于改变存储器模块信号的行为的可编程 组件，如具有可编程驱动强度的输出驱动器、用于改变所述存储器模块接 口端子处的电气负载的可编程加载电路。所述诊断存储器模块还可包括处 理器核心，用于执行程序指令来执行诊断操作，并且所述程序指令可从所 述外部诊断系统被下载到所述处理器核心。备选地，可提供专用逻辑来响 应于从所述接口接收到命令而执行诊断操作。

所述处理器核心或专用逻辑可执行诸如以下的操作：改变写入到所述 诊断存储器模块的数据流来模拟错误、改变地址与数据信号之间的定时、 以及操纵所述诊断存储器模块的端子上的信号，例如，在模拟域中的电源 连接上引入噪声。所述诊断存储器模块还可包括测试点，用于提供外部测 试设备对所述诊断存储器模块的信号的访问。

前述及其他本发明的目的、特征及优点将可由以下对于本发明的优选 实施例的更为特定的说明来进行了解，如附图中所述。

附图说明

在所附权利要求中说明了被认为是本发明特性的新颖特征。但是，当 结合附图阅读时，通过参考以下对示例性实施例的详细说明，可以最佳地 理解发明本身及其优选使用方式、进一步的目的和优点，其中相同的标号 指示相同的部件，这些附图是：

图1为安装有根据本发明实施例的诊断存储器模块并耦合至工作站测 试系统的计算机系统的方块图；

图2为根据本发明实施例的诊断存储器模块的方块图；

图3为根据本发明实施例的描述图2的可编程负载/端接器35的细节 的示意图；以及

图4为根据本发明实施例的描述图2的可编程缓冲器/延迟32的细节 的示意图。

具体实施方式