[发明专利]补偿分析物分析中的系统延迟和/或外源照明

权利要求书

1.一种用于确定与一团流体中的一种或多种气态分析物相关的信息的 传感器，所述传感器包括：

用于发射电磁辐射从而使得所发射电磁辐射的强度以周期性方式振荡 的发射体；

可发光介质，所述可发光介质与所述一团流体操作性连通并被布置成 接收来自所述发射体的电磁辐射，其中，所述可发光介质响应于所接收的 来自所述发射体的电磁辐射而发射发光辐射；

被布置成接收所述发光辐射的辐射传感器，所述辐射传感器产生输出 信号，所述输出信号传达与所接收发光辐射的强度相关的信息；以及

处理器，所述处理器用于在由所述发射体发射的电磁辐射强度振荡上 两个或更多预定周期点对所述辐射传感器产生的输出信号进行抽样，并且 其中，所述处理器基于所述输出信号的样本来确定与由所述发射体发射的 电磁辐射强度的振荡和由所述辐射传感器接收的发光辐射强度的振荡之间 的相位差相关的信息，

其中，对所述输出信号抽样的周期点间隔时间t，其中，(a)t＝n*T/4， 或其中，t＝n*T/6，其中，T表示由所述发射体发射的电磁辐射强度的振荡 周期，并且其中，n表示整数。

2.一种用于确定与一团流体中的一种或多种气态分析物相关的信息的 传感器，所述传感器包括：

用于发射电磁辐射从而使得所发射电磁辐射的强度以周期性方式振荡 的发射体；

可发光介质，所述可发光介质与所述一团流体操作性连通并被布置成 接收来自所述发射体的电磁辐射，其中，所述可发光介质响应于所接收的 来自所述发射体的电磁辐射而发射发光辐射；

被布置成接收所述发光辐射的辐射传感器，所述辐射传感器产生输出 信号，所述输出信号传达与所接收发光辐射的强度相关的信息；以及

处理器，所述处理器用于在由所述发射体发射的电磁辐射强度振荡上 两个或更多预定周期点对所述辐射传感器产生的输出信号进行抽样，并且 其中，所述处理器基于所述输出信号的样本来确定与由所述发射体发射的 电磁辐射强度的振荡和由所述辐射传感器接收的发光辐射强度的振荡之间 的相位差相关的信息，

其中，与由所述发射体发射的电磁辐射强度的振荡和所述发光辐射强 度的振荡之间的相位差相关的信息包括tan(θ)，其中，θ表示所述相位差。

3.一种确定与一团流体中的一种或多种气态分析物相关的信息的方 法，所述方法包括：

发射具有强度且以周期性方式振荡的电磁辐射，其中，发射所述电磁 辐射，从而使得所发射的电磁辐射入射在与所述一团流体操作性连通的可 发光介质上，并且其中，所述可发光介质响应于所接收的电磁辐射而发射 发光辐射；

接收所述发光辐射中的至少一部分；

产生输出信号，所述输出信号传达与所接收发光辐射的强度相关的信 息；

在所发射的电磁辐射强度的振荡上的两个或更多预定周期点对所述输 出信号进行抽样；以及

基于所述输出信号的样本，确定与所发射的电磁辐射强度的振荡和所 接收的发光辐射强度的振荡之间的相位差相关的信息，

其中，对所述输出信号抽样的周期点间隔时间t，其中，(a)t＝n*T/4， 或其中，(b)t＝n*T/6，其中，T表示所发射的电磁辐射强度的振荡周期， 并且其中，n表示整数。