[发明专利]包括功率半导体管芯和热沉的子组件及其形成方法有效

专利信息
申请号: 200880104972.8 申请日: 2008-07-09
公开(公告)号: CN101796612A 公开(公告)日: 2010-08-04
发明(设计)人: 江挽澜;林光汉;彭智平 申请(专利权)人: 威世通用半导体公司
主分类号: H01L21/00 分类号: H01L21/00
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 关兆辉;谢丽娜
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 包括 功率 半导体 管芯 组件 及其 形成 方法
【权利要求书】:

1.一种半导体组件,包括:

i.第一子组件,包括:

热沉;

第一构图聚合物层,所述第一构图聚合物层设置在所述热沉 的表面上,以限定第一表面的暴露部分,所述第一表面的暴露部分从 所述第一构图聚合物层沿着所述热沉表面径向向内延伸;

第二构图聚合物层,所述第二构图聚合物层设置在所述第一 构图聚合物层的径向靠外的部分上,所述第一构图聚合物层和所述第 二构图聚合物层限定了用于容纳功率半导体管芯的单元;

ii.焊料材料,所述焊料材料设置在所述热沉表面的暴露部上和所 述单元中;以及

iii.功率半导体管芯,所述功率半导体管芯位于所述第一构图聚合 物层的径向向内的部分上的单元内,并且通过所述焊料材料热耦合到 所述热沉。

2.根据权利要求1所述的半导体组件,还包括:

半导体封装,所述第一子组件、焊料和管芯位于所述半导体封装 中。

3.根据权利要求2所述的半导体组件,其中,

所述半导体封装是芯片级封装。

4.根据权利要求1所述的半导体组件,其中所述第一构图聚合物 层和所述第二构图聚合物层中的至少一个包括:聚酰亚胺。

5.根据权利要求1所述的半导体组件,其中,

所述功率半导体管芯具有给定形状的占用面积,以及所述第一构 图聚合物层与所述给定形状相符。

6.根据权利要求1所述的半导体组件,还包括第二子组件,所述 第二子组件包括:

第二热沉;

第三构图聚合物层,所述第三构图聚合物层设置在所述热沉的表 面上,以限定所述表面的暴露部分,所述表面的暴露部分从所述第三 构图聚合物层沿着所述第二热沉的表面径向向内延伸;

第四构图聚合物层,所述第四构图聚合物层设置在所述第三构图 聚合物层的径向靠外的部分上,所述第三构图聚合物层和所述第四构 图聚合物层限定了用于容纳功率半导体管芯的单元;

第二焊料材料,所述第二焊料材料设置在所述第二热沉表面的暴 露部分上,以及

其中,所述功率半导体管芯还位于所述第三构图聚合物层的径向 向内的部分上的单元内、并且通过所述第二焊料材料热耦合到所述第 二热沉。

7.一种半导体组件,包括:

热沉;

第一构图聚合物层,所述第一构图聚合物层设置在所述热沉 的表面上,以限定所述第一表面的暴露部分,所述第一表面的暴露部 分从所述第一构图聚合物层沿着所述热沉表面径向向内延伸;

焊料材料,所述焊料材料设置在所述热沉表面的暴露部分上; 以及

功率半导体管芯,所述功率半导体管芯位于所述第一构图聚合物 层上、并且通过所述焊料材料热耦合到所述热沉。

8.根据权利要求7所述的半导体组件,还包括:

半导体封装,所述热沉、第一构图聚合物层、焊料和管芯位于所 述半导体封装中。

9.根据权利要求8所述的半导体组件,其中,

所述半导体封装是芯片级封装。

10.根据权利要求7所述的半导体组件,其中,

所述功率半导体管芯具有给定形状的占用面积,以及所述第一构 图聚合物层与所述给定形状相符。

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