[发明专利]低剖面触摸面板系统无效
申请号: | 200880105036.9 | 申请日: | 2008-08-29 |
公开(公告)号: | CN101802759A | 公开(公告)日: | 2010-08-11 |
发明(设计)人: | 约翰·牛顿 | 申请(专利权)人: | 奈克斯特控股公司 |
主分类号: | G06F3/042 | 分类号: | G06F3/042 |
代理公司: | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204 | 代理人: | 余朦;王艳春 |
地址: | 美国伊*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 剖面 触摸 面板 系统 | ||
1.一种触摸检测系统,包括:
光学检测系统,位于触摸表面的边缘处,并且至少部分地位于所述触摸表面的平面之下,所述触摸表面的平面与所述触摸表面的顶部对应;以及
光学组件,位于所述触摸表面的边缘处,并且在所述触摸表面的平面之上延伸,从而与所述触摸表面的平面之上的检测平面相交,所述光学组件配置为使光线从所述检测平面内的光学路径通过小孔孔径折射进入所述光学检测系统内;
其中,所述光学组件限定了所述触摸表面的平面之上的剖面高度,所述剖面高度近似等于所述小孔孔径的直径。
2.如权利要求1所述的触摸检测系统,其中,所述剖面高度等于所述小孔孔径的直径。
3.如权利要求1所述的触摸检测系统,其中,所述剖面高度小于1mm。
4.如权利要求3所述的触摸检测系统,其中,所述小孔孔径的直径小于或者等于0.5mm。
5.如权利要求1所述的触摸检测系统,进一步包括:
照明源,至少部分地位于所述触摸表面的平面之下,并且配置为使光线通过所述小孔孔径导向所述光学组件;以及
照明边框,处于所述触摸表面的边缘处,所述照明边框包括使在所述检测平面内朝着所述边框传播的光线反射回所述检测平面内的表面。
6.如权利要求1所述的触摸检测系统,进一步包括:
照明源,至少部分地位于所述触摸表面的平面之下;以及
照明边框,处于所述触摸表面的边缘处,所述照明边框包括第二光学组件,所述第二光学组件位于所述触摸表面的边缘处,并且在所述触摸表面的平面之上延伸,从而与所述检测平面相交;
其中,将所述照明源配置为使光线导向所述第二光学组件,将所述第二光学组件配置为使从所述照明源接收的光线折射至位于所述检测平面内的所述光学路径中。
7.如权利要求6所述的触摸检测系统,其中,所述第二光学组件限定了近似等于所述小孔孔径的尺寸的剖面高度。
8.如权利要求1所述的触摸检测系统,进一步包括:
至少一个第二光学检测系统,所述第二光学检测系统位于所述触摸表面的边缘处,并且配置为接收通过小孔孔径导向所述第二检测系统的光线;以及
至少一个计算设备,与所述第一光学检测系统和所述第二光学检测系统连接,并且配置为基于从所述第一光学检测系统和所述第二光学检测系统收集的数据确定物体与所述检测平面相交的位置。
9.如权利要求1所述的触摸检测系统,进一步包括:
显示系统,具有与所述触摸表面平行放置或与所述触摸表面对应放置的上表面。
10.如权利要求1所述的触摸检测系统,其中,所述检测系统完全位于所述触摸表面的平面之下。
11.一种触摸检测系统,包括:
照明边框,位于触摸表面的边缘处,并且配置为沿着位于所述触摸表面的平面上的检测平面内的光学路径引导光线,所述触摸表面的平面与所述触摸表面的顶部相对应;
多个检测系统,沿着所述触摸表面的边缘放置,并且至少部分地位于所述触摸表面的平面之下;以及
至少一个光学组件,位于所述触摸表面的边缘处,并且在所述触摸表面的平面之上延伸,从而与所述检测平面相交,所述光学组件配置为使光线从位于所述检测平面内的光学路径通过与每个检测系统对应的小孔孔径导向各自的检测系统内;
其中,所述光学组件延伸高出所述触摸表面的高度近似等于所述小孔孔径的直径。
12.如权利要求11所述的触摸检测系统,进一步包括:
照明源,至少部分地位于所述触摸表面之下,并且配置为使光线通过所述小孔孔径导向所述光学组件;
其中,所述照明边框包括使在所述检测平面内朝着所述边框传播的光线反射回所述检测平面内的表面。
13.如权利要求11所述的触摸检测系统,进一步包括:
照明源,至少部分地位于所述触摸表面的平面之下;
其中,所述照明边框包括第二光学组件,所述第二光学组件位于所述触摸表面的边缘处,并且在所述触摸表面的平面之上延伸,从而与所述检测平面相交;并且
其中,所述照明源配置为使光线导向所述第二光学组件,所述第二光学组件配置为使从所述照明源接收的光线导向位于所述检测平面内的所述光学路径中。
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