[发明专利]检测沿纵向运动的纱线的杂质的方法和装置无效

专利信息
申请号: 200880106300.0 申请日: 2008-08-29
公开(公告)号: CN101802591A 公开(公告)日: 2010-08-11
发明(设计)人: 瓦尔德马·博根德佐夫;奥拉夫·伯莱姆;丹妮拉·博尔滕;乌尔里赫·费希特尔;奥利弗·费格尔;马克·亨克;于尔根·胡尔森;安德里亚·克鲁格;汉斯-彼得·莫尔;沃尔夫冈·拉德马赫尔 申请(专利权)人: 欧瑞康纺织有限及两合公司
主分类号: G01N21/19 分类号: G01N21/19
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 史敬久
地址: 德国雷姆*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 检测 纵向 运动 纱线 杂质 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种检测沿纵向运动的纱线(1)的尤其是异质纤维这样的杂质的方法,其中,朝向纱线方向发射光,并且在这里确定反射值(R)和相关的透射值(T),所述反射值代表由所述纱线反射的光的强度,所述透射值代表由所述纱线透射的光的强度,所述方法的特征在于,将相应透射值(T)和与反射有关的参考值(Rm)联系起来并且比较当前反射值(R)与所述参考值(Rm),或者将相应反射值(R)和与透射有关的参考值(Tm)联系起来并且比较当前透射值(T)与所述参考值(Tm)。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述与反射有关的参考值是所述反射值的平均值(Rm)。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述与透射有关的参考值是所述透射值的平均值(Tm)。

4.根据权利要求2或3所述的方法,其特征在于,应用在所述纱线基准长度期间总是与所述透射值(T)相关地确定的所有反射值(R)或者总是与所述反射值(R)相关地确定的所有透射值(T)来确定所述平均值(Rm、Tm)。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,将纱线长度的第一部分用作为基准长度。

6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,将整个纱线长度用作为基准长度。

7.根据权利要求4至6之一所述的方法,其特征在于,在所述基准长度的第一部分期间无杂质分析。

8.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,在所述整个基准长度期间无杂质分析。

9.根据权利要求2至8之一所述的方法,其特征在于,所述平均值(Rm、Tm)被作为算术平均值计算。

10.根据权利要求2至8之一所述的方法,其特征在于,所述平均值(Rm、Tm)被作为中位数计算。

11.根据权利要求2至8之一所述的方法,其特征在于,所述平均值(Rm、Tm)通过指数滤波器形成。

12.根据权利要求1至11之一所述的方法,其特征在于,所述透射值(T)和所述相关的参考值(Rm)被存储在表格(20)中。

13.根据权利要求1至11之一所述的方法,其特征在于,所述反射值(R)和所述相关的参考值(Tm)被存储在表格(30)中。

14.根据前述权利要求之一所述的方法,其特征在于,确定当前值(R、T)与参考值(Rm、Tm)的绝对偏差(ΔR、ΔT)或者相对偏差(ΔR/Rm、ΔT/Tm)。

15.根据权利要求14所述的方法,其特征在于,当所述绝对偏差(ΔR、ΔT)或者相对偏差(ΔR/Rm、ΔT/Tm)高于或者低于预定临界值时,表示有杂质。

16.根据前述权利要求之一所述的方法,其特征在于,同时确定所述当前反射值(R)和所述当前透射值(T)。

17.用于执行根据权利要求1至16之一所述的方法的一种装置,所述装置具有控制和分析装置(6)和至少一个光源(3)以及传感器(4、5),所述光源被构造用于朝向纱线方向发射光,所述传感器用于探测反射值(R)和相关的透射值(T),所述反射值代表由所述纱线反射的光的强度,所述透射值代表由所述纱线透射的光的强度,所述装置的特征在于,所述控制和分析装置(6)如此构造,即,将相应透射值(T)和与反射有关的参考值(Rm)联系起来并且比较所述参考值(Rm)与当前反射值(R),或者所述控制和分析装置(6)如此构造,即,将相应反射值(R)和与透射有关的参考值(Tm)联系起来并且比较所述参考值(Tm)与当前透射值(T)。

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