[发明专利]分光测量用压片、其制造方法和分光测量方法有效

专利信息
申请号: 200880106495.9 申请日: 2008-09-25
公开(公告)号: CN101802593A 公开(公告)日: 2010-08-11
发明(设计)人: 冈本雅司;小川雄一 申请(专利权)人: 爱科来株式会社;国立大学法人东北大学
主分类号: G01N21/35 分类号: G01N21/35;G01N1/36;G01N21/01
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;张会华
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 分光 测量 压片 制造 方法 测量方法
【权利要求书】:

1.一种分光测量用压片,其具有对能够使兆兆赫波透过的 第1粉末压缩成形而成的结构,用于保持作为分光测量对象的试 样,其特征在于,

在上述第1粉末中分散混入有具有亲水性的非水溶性的第2 粉末,

其中,使用聚乙烯或聚丙烯这种烯烃类树脂的粉末和氟化 乙烯这种氟树脂的粉末中的至少一方作为上述第1粉末。

2.根据权利要求1所述的分光测量用压片,

上述试样是粉末状的固体且被分散混入上述第1粉末和第2 粉末中。

3.根据权利要求1所述的分光测量用压片,

上述试样是薄膜状的固体,上述第1粉末和第2粉末包围上 述试样的周围。

4.根据权利要求1所述的分光测量用压片,

在上述试样是溶液的情况下,该分光测量用压片能够通过 使该溶液进入上述第1粉末和第2粉末之间和在压片表面部接受 上述溶液中的至少一方式保持上述溶液。

5.根据权利要求1~4任一项所述的分光测量用压片,

使用二氧化硅、氧化铝、二氧化钛、碳酸钙和滑石中的至 少1种粉末作为上述第2粉末。

6.根据权利要求1~4任一项所述的分光测量用压片,

上述第2粉末的平均粒径小于上述第1粉末的平均粒径。

7.一种分光测量方法,其包括对保持有试样的分光测量用 压片照射光的工序、以及检测上述分光测量用压片的透射光而 求出上述试样的规定频带的透射或吸收光谱的数据的工序,其 特征在于,

使用压缩成形能够使兆兆赫波透过的第1粉末而成、且在上 述第1粉末中分散混入具有亲水性的非水溶性的第2粉末的压片 作为上述分光测量用压片,

其中,使用聚乙烯或聚丙烯这种烯烃类树脂的粉末和氟化 乙烯这种氟树脂的粉末中的至少一方作为上述第1粉末。

8.根据权利要求7所述的分光测量方法,

在上述试样被判断是无水物的状态下,还包括对上述分光 测量用压片内供给水分,之后求出上述试样的透射或吸收光谱 的数据的工序。

9.一种分光测量用压片的制造方法,其特征在于,

包括:混合能够使兆兆赫波透过的第1粉末和具有亲水性的 非水溶性的第2粉末的工序;以及压缩成形上述被混合的第1粉 末和第2粉末的工序,

其中,使用聚乙烯或聚丙烯这种烯烃类树脂的粉末和氟化 乙烯这种氟树脂的粉末中的至少一方作为上述第1粉末。

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