[发明专利]分光测量用压片、其制造方法和分光测量方法有效
申请号: | 200880106495.9 | 申请日: | 2008-09-25 |
公开(公告)号: | CN101802593A | 公开(公告)日: | 2010-08-11 |
发明(设计)人: | 冈本雅司;小川雄一 | 申请(专利权)人: | 爱科来株式会社;国立大学法人东北大学 |
主分类号: | G01N21/35 | 分类号: | G01N21/35;G01N1/36;G01N21/01 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;张会华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 分光 测量 压片 制造 方法 测量方法 | ||
1.一种分光测量用压片,其具有对能够使兆兆赫波透过的 第1粉末压缩成形而成的结构,用于保持作为分光测量对象的试 样,其特征在于,
在上述第1粉末中分散混入有具有亲水性的非水溶性的第2 粉末,
其中,使用聚乙烯或聚丙烯这种烯烃类树脂的粉末和氟化 乙烯这种氟树脂的粉末中的至少一方作为上述第1粉末。
2.根据权利要求1所述的分光测量用压片,
上述试样是粉末状的固体且被分散混入上述第1粉末和第2 粉末中。
3.根据权利要求1所述的分光测量用压片,
上述试样是薄膜状的固体,上述第1粉末和第2粉末包围上 述试样的周围。
4.根据权利要求1所述的分光测量用压片,
在上述试样是溶液的情况下,该分光测量用压片能够通过 使该溶液进入上述第1粉末和第2粉末之间和在压片表面部接受 上述溶液中的至少一方式保持上述溶液。
5.根据权利要求1~4任一项所述的分光测量用压片,
使用二氧化硅、氧化铝、二氧化钛、碳酸钙和滑石中的至 少1种粉末作为上述第2粉末。
6.根据权利要求1~4任一项所述的分光测量用压片,
上述第2粉末的平均粒径小于上述第1粉末的平均粒径。
7.一种分光测量方法,其包括对保持有试样的分光测量用 压片照射光的工序、以及检测上述分光测量用压片的透射光而 求出上述试样的规定频带的透射或吸收光谱的数据的工序,其 特征在于,
使用压缩成形能够使兆兆赫波透过的第1粉末而成、且在上 述第1粉末中分散混入具有亲水性的非水溶性的第2粉末的压片 作为上述分光测量用压片,
其中,使用聚乙烯或聚丙烯这种烯烃类树脂的粉末和氟化 乙烯这种氟树脂的粉末中的至少一方作为上述第1粉末。
8.根据权利要求7所述的分光测量方法,
在上述试样被判断是无水物的状态下,还包括对上述分光 测量用压片内供给水分,之后求出上述试样的透射或吸收光谱 的数据的工序。
9.一种分光测量用压片的制造方法,其特征在于,
包括:混合能够使兆兆赫波透过的第1粉末和具有亲水性的 非水溶性的第2粉末的工序;以及压缩成形上述被混合的第1粉 末和第2粉末的工序,
其中,使用聚乙烯或聚丙烯这种烯烃类树脂的粉末和氟化 乙烯这种氟树脂的粉末中的至少一方作为上述第1粉末。
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