[发明专利]逐段确定参数相关校正值近似曲线的方法和传感器设备

说明书

技术领域

本发明的实施例涉及一种确定在很多技术领域中示例性使用的 传感器设备的校正值近似曲线的方法。

背景技术

在很多传感器或传感器设备中，由于制造、环境、操作或其他效 应所造成的影响，导致使用这些传感器或传感器设备检测到的测量值 发生讹误。根据传感器、传感器类型或效应，相应的讹误可以对所建 立的测量值有不同效应。除了简单的偏移之外(即，相应测量值偏移 了常数或参数相关值)，还可能发生更复杂的讹误。例如，作用于传感 器上的测量量和传感器检测到的相应测量值之比可以表现出参数相依 性。此外，可以在作用于传感器上的测量量和传感器检测到的测量值 之间得到参数相关的非线性特征曲线。

US5,062,062涉及一种检测转矩的设备。用于测量物理量、确切 地说测量物体运动位置的设备将测量以预设的分段数量在前场中进行 划分。在校正计算表达式的基础上计算传感器的物理量输出值，校正 计算表达式针对每个分段都有独立的系数群，用以修正偏移部分以及 灵敏度。物理量可以比如是传递转矩。校正操作同样可以在使用偏移 信号的温度关系函数以及灵敏度的温度关系函数的情况下实施，用以 在不受温度改变的影响下实现准确地测量物理量。

除此之外，需要通过实现改进的校正值近似曲线来提高测量精度， 所述改进的校正值近似曲线同时允许简化的传感器制造。

发明内容

通过本发明的实施例，一种针对传感器设备的测量信号校正来逐 段确定参数相关校正值近似曲线的方法解决了该问题，其中，关于初 始参数值而给定初始校正值和第一参数系数，所述校正值近似曲线包 括基于初始校正值和第一参数系数的、针对第一参数范围的第一分段， 所述方法包括：当第一参数值满足预定的条件或触发条件得以满足时， 利用与传感器设备相关联的第一参数值来确定第一测量信号值；改变 与传感器设备相关联的第一参数值以获得与所述传感器设备相关联的 第二参数值；利用第二参数值来确定第二测量信号值；以及考虑第一 参数值和第二参数值、第一测量信号值和第二测量信号值以及初始校 正值，基于对针对第二参数范围的、校正值近似曲线的第二分段加以 描述的函数关系，来确定所述第二分段，其中，确定校正值近似曲线 的第二分段，使得第一参数范围与第二参数范围相邻；以及校正值近 似曲线的第一分段和第二分段彼此连续地相邻。

另一方面，一种传感器设备也可以解决该问题，该传感器设备包 括：第一传感器元件，用于提供测量信号；第二传感器元件，用于提 供参数信号；以及处理电路，耦合至第一传感器元件和第二传感器元 件，被实现为检测来自第一传感器元件的测量信号和来自第二传感器 元件的参数信号，其中，所述处理电路还被实现为：当第一参数值满 足预定的条件或触发条件得以满足时，利用与传感器设备相关联并且 与第一参数信号相对应的第一参数值来确定第一测量信号；所述处理 电路还被实现为：改变与传感器设备相关联的第一参数值以获得与传 感器设备相关联并且与第二参数信号相对应的第二参数值；所述处理 电路还被实现为：利用第二参数值来确定第二测量信号值；以及所述 处理电路还被实现为：考虑第一参数值和第二参数值、第一测量信号 值和第二测量信号值、初始校正值，基于对第二参数范围中校正近似 曲线的第二分段加以描述的函数关系，来确定所述第二分段，其中， 第一参数范围中校正值近似曲线的第一分段基于所述预定的初始校正 值以及第一预定的参数系数；确定校正值近似曲线的第二分段，使得 第一参数范围与第二参数范围相邻；以及校正值近似曲线的第一分段 和第二分段连续地相邻。

本发明的实施例基于下述发现：可以通过考虑改进的校正近似曲 线来实现测量精度中的提高，其中可以基于单一初始校正值和第一参 数系数来建立这种改进的校正近似曲线。在本发明的实施例中，通过 逐段确定校正近似曲线来实现这一点，其中利用预定的初始校正值和 与初始参数值相关的第一参数系数来预设第一参数范围中的、校正近 似曲线的第一子段。