[发明专利]光学测量设备及其方法

权利要求书

1.一种光学测量设备，其特征在于包括：

光学系统，包括：

被布置成当在使用中时产生探测束的源，所述光学系统被布置成当在使用中时将所述探测束引导到待被测量的位置；

被布置成当在使用中时从所述待被测量的位置接收反射束的探测器；和

接收轴线；其中所述设备进一步包括：

处理资源，所述处理资源被以可操作方式耦接到所述探测器并且当在使用中时能够估定由所述探测器产生的输出的特性，所述输出特性的估定相应于所述待被测量的位置与所述光学系统的接收轴线的对准度估定。

2.根据权利要求1的设备，其特征在于：所述待被测量的位置是眼睛特征的位置。

3.根据权利要求1或者权利要求2的设备，其特征在于：所述特性估定是所述输出特性的定量估定。

4.根据权利要求1或者权利要求2或者权利要求3的设备，其特征在于：所述特性估定是所述输出特性的定性估定。

5.根据前面权利要求中任何一项的设备，其特征在于：所述输出特性的估定是所测得的并且相应于所述输出特性的参数的估定。

6.根据前面权利要求中任何一项的设备，其特征在于：所述处理资源被布置成提供示意所述待被测量的位置与所述接收轴线的对准度的反馈信息，所述反馈信息是基于所述输出特性的估定的。

7.根据权利要求6的设备，当依赖于权利要求2时，其特征在于：所述眼睛具有第一轴线和第二轴线，所述处理资源被布置成提供反馈以获得所述第一轴线与所述接收轴线的错位从而实现所述第二轴线与所述接收轴线的对准。

8.根据权利要求6的设备，其特征在于：所述反馈信息是声响或者视觉对准指示。

9.根据权利要求2到8中任一项的设备，其特征在于：所述探测束是眼睛不可视的。

10.根据前面权利要求中任何一项的设备，其特征在于：所述处理资源被布置成关于所述反射束执行测量并且产生所述输出特性的第一测量。

11.根据权利要求10的设备，其特征在于：所述处理资源被布置成产生另一输出特性的第二测量。

12.根据权利要求10或者权利要求11的设备，其特征在于：所述第一测量被用于提供所述待被测量的位置与所述光学系统的对准度的粗略指示。

13.根据权利要求11或者权利要求12的设备，其特征在于：所述第二测量被用于提供所述待被测量的位置与所述光学系统的对准度的精细指示。

14.根据前面权利要求中任何一项的设备，其特征在于：进一步包括用于存储相应于基本上与所述光学系统最佳的对准的状态的数据的存储器。

15.根据前面权利要求中任何一项的设备，其特征在于：所述探测器的输出具有相应于关于所述待被测量的位置的探测束反射的信号廓线。

16.根据权利要求12的设备，其特征在于：进一步包括用于存储相应于与之相关的廓线和/或参考特性数据的至少一个部分的参考廓线数据的存储器，所述参考廓线数据和/或所述参考特性数据相应于与所述光学系统对准的状态。

17.根据权利要求16的设备，其特征在于：所述处理资源被布置成基于关于所述测得输出与之相关的所述信号廓线和/或特性数据的至少一个部分和存储的参考廓线数据和/或存储的参考特性数据的比较而进行估定。

18.根据权利要求15到17中任一项的设备，其特征在于：所述探测器的输出是包括分别地相应于多个探测束反射的多个廓线和/或特性的迹线。

19.根据权利要求18的设备，其特征在于：所述多个反射包括从所述待被测量的位置和待被测量的另一位置的第一反射，所述待被测量的位置相对于彼此是错位的。

20.根据权利要求15到19中任一项的设备，其特征在于：通过使用所述探测束在一段时期上获取多个序列廓线或者迹线并且处理相应于所述所述廓线或者迹线的多个输出信号而产生所述信号廓线或者迹线。

21.根据权利要求20的设备，其特征在于：所述多个输出信号的处理包括过滤所述多个输出信号从而抛弃真有并不符合预定的对准度阀值的、分别的对准度的任何输出信号。