[发明专利]形成陶瓷氧化硅类涂层的方法,生产无机基材的方法,形成陶瓷氧化硅类涂层的试剂,和半导体器件无效

专利信息
申请号: 200880110251.8 申请日: 2008-10-03
公开(公告)号: CN101815766A 公开(公告)日: 2010-08-25
发明(设计)人: 张原志成;道野哲行;E·D·卡特索里斯;栉引信男;须藤通孝 申请(专利权)人: 道康宁东丽株式会社;陶氏康宁公司
主分类号: C09D183/04 分类号: C09D183/04;H01L31/0216;C09D183/05;C23C18/12
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 张钦
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 形成 陶瓷 氧化 涂层 方法 生产 无机 基材 试剂 半导体器件
【权利要求书】:

1.一种形成陶瓷氧化硅类涂层的方法,该方法包括:

在无机基材的表面上形成包含用硅氧烷单元式(1)表示的有机基氢硅氧烷·氢硅氧烷共聚物的涂层:

(HRSiO2/2)n(HSiO3/2)m    (1)

在该式中,R是选自C1-10烷基和C6-10芳基的单价烃基,n是平均值为0.01≤n≤0.80的数,和n+m=1;和

然后在惰性气体或其中氧气小于20体积%的含氧气的惰性气体内,加热该涂布的无机基材到高温,以将该涂层转化成陶瓷氧化硅类涂层。

2.权利要求1的形成陶瓷氧化硅类涂层的方法,其中惰性气体是氮气。

3.权利要求1或2的形成陶瓷氧化硅类涂层的方法,其中加热温度为300-600℃。

4.一种生产表面上具有陶瓷氧化硅类涂层的无机基材的方法,该方法包括:

在无机基材的表面上形成包含用硅氧烷单元式(1)表示的有机基氢硅氧烷·氢硅氧烷共聚物的涂层:

(HRSiO2/2)n(HSiO3/2)m    (1)

在该式中,R是选自C1-10烷基和C6-10芳基的单价烃基,n是平均值为0.01≤n≤0.80的数,和n+m=1;和

然后在惰性气体或其中氧气小于20体积%的含氧气的惰性气体内,加热该涂布的无机基材到高温,以将该涂层转化成陶瓷氧化硅类涂层。

5.权利要求4的生产无机基材的方法,其中无机基材是金属基底、陶瓷基底、玻璃基底、石英基底或电子器件。

6.权利要求5的生产无机基材的方法,其中金属基底是薄且挠性的金属板。

7.权利要求6的生产无机基材的方法,其中薄且挠性的金属板是不锈钢箔。

8.一种形成陶瓷氧化硅类涂层的试剂,该试剂包含(A)用硅氧烷单元式(1)表示的有机基氢硅氧烷·氢硅氧烷共聚物:

(HRSiO2/2)n(HSiO3/2)m    (1)

在该式中,R是选自C1-10烷基和C6-10芳基的单价烃基,n是平均值为0.01≤n≤0.80的数,和n+m=1;或者包含组分(A)和(B)溶解或稀释组分(A)所要求量的有机溶剂,且可通过在惰性气体或其中氧气小于20体积%的含氧气的惰性气体内加热到高温而转化成陶瓷氧化硅类涂层。

9.权利要求8的形成陶瓷氧化硅类涂层的试剂,其中在硅氧烷单元式(1)中,n是平均值为0.05≤n≤0.50的数。

10.权利要求8或9的形成陶瓷氧化硅类涂层的试剂,其中在硅氧烷单元式(1)中,R是甲基、苯基、或甲基和苯基。

11.一种半导体器件,其特征在于,在金属基底的陶瓷氧化硅类涂层上形成至少一层半导体层,所述金属基底在其表面上具有通过权利要求5的生产方法获得的陶瓷氧化硅类涂层。

12.权利要求11的半导体器件,其中金属基底是不锈钢箔;半导体层是硅半导体薄层或化合物半导体薄层;和半导体器件是薄膜太阳能电池。

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