[发明专利]能形成致密硅质薄膜的含聚硅氮烷的组合物有效

专利信息
申请号: 200880112428.8 申请日: 2008-10-27
公开(公告)号: CN101835847A 公开(公告)日: 2010-09-15
发明(设计)人: 尾崎祐树 申请(专利权)人: AZ电子材料(日本)株式会社
主分类号: C08L83/16 分类号: C08L83/16;C08G77/62;C08K5/17;C09D7/12;C09D183/16;H01L21/312
代理公司: 北京三幸商标专利事务所 11216 代理人: 刘激扬
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 形成 致密 薄膜 含聚硅氮烷 组合
【权利要求书】:

1.一种含聚硅氮烷的组合物,包含:

聚硅氮烷化合物,

下式(A)或下式(B)表示的胺化合物:

(其中

RA各自独立地表示氢或C1-C3烃基,并满足以下条件:连接到同一个氮原子上的两个RA不同时是氢,

L1和L2各自独立地表示-CH2-、-NRA1-(其中RA1是氢或C1-C4烃基)或-O-,

p1和p3各自独立地是0~4的整数,

p2是1~4的整数)

(其中

RB各自独立地表示氢或C1-C4烃基,和

q1和q2各自独立地是1~4的整数),

以及

能溶解所述聚硅氮烷化合物和所述胺化合物的溶剂。

2.根据权利要求1的含聚硅氮烷的组合物,其中所述胺化合物选自下列化合物(A1)-(A5)和(B1)-(B2):

3.根据权利要求1或2的含聚硅氮烷的组合物,其中所述溶剂包含(b)饱和烃化合物、(c)脂环烃化合物、(d)醚类或(e)酮类。

4.根据权利要求1~3任一项的含聚硅氮烷的组合物,其中所述聚硅氮烷化合物是全氢聚硅氮烷。

5.一种形成硅质薄膜的方法,其中将根据权利要求1~4任一项的含聚硅氮烷的组合物涂覆于衬底上,然后转变为硅质薄膜。

6.根据权利要求5的形成硅质薄膜的方法,其中在100℃或更低的温度和40~95%的相对湿度的条件下进行向硅质薄膜的转变。

7.一种根据权利要求5或6的方法形成的硅质薄膜。

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