[发明专利]用于减少基于EEG的癫痫发作检测器中的通道数目的方法和装置

权利要求书

1.一种用于从检测患者的癫痫发作所需的多个m EEG通道中选择特定患者的电极子集的方法，所述方法包括以下步骤：

收集来自所述多个m EEG通道的发作EEG数据；

选择所述多个m EEG通道的有效通道子集n；

响应于所述通道子集n构建检测器；以及

估计所述检测器在检测发作方面的性能。

2.根据权利要求1所述的方法，其中选择所述多个m EEG通道的所述有效通道子集n的所述步骤包括递归特征消除法。

3.根据权利要求2所述的方法，其中递归特征消除法包括以下步骤：

a.使用所述多个m通道构建检测器；

b.估计所述检测器的所述性能；

c.从所述多个m通道中去除最无用的通道；

d.估计剩余的多个通道的性能；

e.重复步骤c和d，直到所述剩余的多个通道的所述性能满足标准；以及

f.将n设置为等于所述多个通道中的所述通道数目，其等于满足所述标准的所述多个通道中的所述通道数目加1。

4.根据权利要求3所述的方法，其中所述标准包括所述剩余的多个通道的所述性能比所述多个m通道的所述性能差。

5.根据权利要求1所述的方法，其中选择所述多个m EEG通道的所述有效通道子集n的所述步骤包括递归特征添加法。

6.根据权利要求5所述的方法，其中递归特征添加法包括以下步骤：

a.使用所述多个m通道中的一个通道构建检测器；

b.估计所述检测器的所述性能；

c.将所述多个m通道中最有用的通道添加到所述子集n；

d.估计子集n中所述多个通道的所述性能；

e.重复步骤c和d，直到子集n中的所述多个通道的所述性能满足判据；以及

f.将n设置为等于满足所述标准的所述多个通道中的所述通道数目。

7.根据权利要求6所述的方法，其中所述标准包括所述剩余的多个通道的所述性能不比所述多个m通道的所述性能差。

8.根据权利要求1所述的方法，其中估计所述检测器的所述性能包括评价由假阳性率、假阴性率和延迟组成的组中的至少一个。

9.根据权利要求1所述的方法，其中估计所述检测器的所述性能的所述步骤是用交叉验证法完成的。

10.根据权利要求1所述的方法，其中所述检测器是基于支持向量机的检测器。

11.根据权利要求10所述的方法，其中所述基于支持向量机的检测器包括径向基核。

12.根据权利要求11所述的方法，其中所述径向基核是非线性的。

13.一种特定患者癫痫发作检测器，包括：

对应于多个m EEG通道的多个电极；

处理器，其被配置为使用递归特征消除法来选择所述多个m EEG通道的通道子集n，响应于所述通道子集n构建所述检测器；以及

估计器，其被配置为估计所述检测器在检测发作方面的性能。

14.根据权利要求13所述的检测器，其中所述子集n包括减去多个最无用的通道的所述多个m通道，其中通过从所述多个m通道中递归地去除所述最无用的通道并且估计所述剩余的多个通道的所述性能，直到所述剩余的多个通道的所述性能满足标准，以此确定所述最无用的通道，所述子集n等于所述多个通道中的所述通道数目，其等于满足所述标准的所述多个通道中的所述通道数目加1。

15.根据权利要求13所述的检测器，其中所述估计器估计所述检测器的所述性能，所述检测器的所述性能来自由假阳性率、假阴性率和延迟组成的组中的至少一个。

16.根据权利要求13所述的检测器，其中所述检测器是基于支持向量机的检测器。

17.根据权利要求16所述的检测器，其中所述基于支持向量机的检测器包括径向基核。

18.根据权利要求17所述的检测器，其中所述径向基核是非线性的。